一种细长构件准静态全场变形测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110146029A

    公开(公告)日:2019-08-20

    申请号:CN201910452279.X

    申请日:2019-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种细长构件准静态全场变形测量装置和方法,该装置包括摄像机构(1)和驱动机构(2),其中,所述摄像机构(1)和驱动机构(2)均与细长构件(3)平行设置,所述摄像机构(1)在驱动机构(2)的作用下进行平移,以在多个位置采集细长构件(3)的图像,进而获得细长构件(3)的全景图像;所述方法包括采集细长构件变形前后的全景图像,比较分析后或得细长构件的应变场。本发明所述的测量装置结构简单,成本低廉,所述方法易于操作、图像精度高、测量效率高。

    一种细长构件准静态全场变形测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110146029B

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN201910452279.X

    申请日:2019-05-28

    Abstract: 本发明公开了一种细长构件准静态全场变形测量装置和方法,该装置包括摄像机构(1)和驱动机构(2),其中,所述摄像机构(1)和驱动机构(2)均与细长构件(3)平行设置,所述摄像机构(1)在驱动机构(2)的作用下进行平移,以在多个位置采集细长构件(3)的图像,进而获得细长构件(3)的全景图像;所述方法包括采集细长构件变形前后的全景图像,比较分析后或得细长构件的应变场。本发明所述的测量装置结构简单,成本低廉,所述方法易于操作、图像精度高、测量效率高。

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