公开(公告)号：CN119831992A

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202510305683.X

申请日：2025-03-14

Applicant: 北京机械工业自动化研究所有限公司 ,  北京理工大学卓越工程师学院

Inventor： 刘振国 ,  张书名 ,  廖旭飞 ,  苏赞 ,  马杰 ,  金富强 ,  王彬 ,  王美玲

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/82 ,  G06V10/774 ,  G06V10/776 ,  G06V10/764 ,  G06V10/44 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0464

Abstract: 本申请提供一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装置和设备。本申请提供的方法，包括：将预先训练好的初始缺陷检测模型作为当前检测模型，利用当前检测模型对待测膜电极组件的表面图像进行缺陷定位和缺陷类型识别，得到待测膜电极组件的检测结果；根据多个检测结果确定当前检测模型的检测精度；在检测精度小于预设精度值，对保存的待测膜电极组件的表面图像进行缺陷位置标注和缺陷类型标注，并将标注后的多个表面图像确定为迭代训练样本；合并迭代训练样本和用于训练初始缺陷检测模型的初始训练样本，训练当前检测模型，得到迭代缺陷检测模型，进行缺陷检测。本申请提供的自迭代的膜电极组件缺陷检测方法，用以提高缺陷检测的检测精度。