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公开(公告)号:CN119311284A
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202411286650.7
申请日:2024-09-13
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种智能物联电能表管理模组批量烧录程序的系统及方法,该系统包括:管理模组固件管理客户端、管理模组生产转存安全盘和管理模组烧录管理系统,解决了应用程序烧录效率低的问题。管理模组固件管理客户端根据订单信息生成订单文件并加密传输给管理模组烧录管理系统;管理模组固件管理客户端为每个管理模组分配包括应用程序和许可证的待烧录程序信息,实现待烧录程序信息的规范化以及安全传输;管理模组固件管理客户端和管理模组烧录管理系统通过管理模组生产转存安全盘传输加密的数据,避免数据泄露,管理模组烧录管理系统依据待烧录程序信息批量进行应用程序的烧录,实现管理模组的快速、批量烧录,提高生产效率的同时保证数据安全。
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公开(公告)号:CN119247219A
公开(公告)日:2025-01-03
申请号:CN202411212360.8
申请日:2024-08-30
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司 , 嵩山实验室
Abstract: 本发明涉及磁传感芯片检测领域,提供一种磁传感芯片灵敏度温漂测试装置及测试方法。所述装置包括:温箱、温漂测试模块及信号采集模块,所述温漂测试模块设置在温箱内,所述信号采集模块与所述温漂测试模块连接;所述温漂测试模块包括m个磁场发生模块,每一个磁场发生模块包括永磁体卡座及多个永磁体,所述永磁体卡座设有用于容纳待测磁传感芯片及标准磁传感芯片的通孔,多个永磁体置于所述通孔两侧的永磁体卡座内;所述信号采集模块具有m个通道,用于同时采集m个磁场发生模块对应的待测磁传感芯片及标准磁传感芯片的输出信号。通过本发明可以低成本、高效率的实现线性磁敏传感芯片的灵敏度温漂测试。
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公开(公告)号:CN119211067A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202411334822.3
申请日:2024-09-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
Abstract: 本发明实施例公开了一种物联表管理模组检测装置及方法。该物联表管理模组检测装置包括:手柄控制模块、主控模块、检测模块、接口模块以及上位模块;物联表管理模组包括单相物联表管理模组和三相物联表管理模组;主控模块控制手柄控制模块固定物联表管理模组与检测模块连接,产生检测起始指令;上位模块根据检测起始指令下发目标程序和检测指令;主控模块在物联表管理模组运行目标程序时根据检测指令控制检测模块对物联表管理模组进行硬件检测、软件检测或入库抽检,获得检测结果;主控模块将检测结果反馈给上位模块。本案可以自动对不同类型的物联表管理模组的软硬件进行检测、兼顾程序发行,从而提高物联表管理模组的检测成本和检测效率。
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公开(公告)号:CN117492958A
公开(公告)日:2024-02-02
申请号:CN202311516258.2
申请日:2023-11-14
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种线程信息调整方法、装置和电子设备,属于计算机技术领域。线程信息调整方法包括:接收第二终端发送的应用程序安装文件;应用程序安装文件包括应用程序下载文件和添加信息;添加信息包括对应用程序下载文件对应运行的应用程序的线程设置的优先级基准值、优先级动态范围值、时间片基准值以及时间片动态范围值;基于优先级基准值和优先级动态范围值,对应用程序的所有线程的优先级进行调整;基于时间片基准值和时间片动态范围值,对应用程序的所有线程的时间片进行调整。通过对应用程序下载文件设置添加信息的方式,可对应用程序下载文件对应的应用程序中所有线程的优先级和时间片的信息进行管理,避免出现应用程序执行混乱的缺陷。
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公开(公告)号:CN115291159B
公开(公告)日:2023-02-21
申请号:CN202211237763.9
申请日:2022-10-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种电能表计量失准分析方法、装置、存储介质及电子设备。其中,方法包括:获取表箱内各子表的电量数据序列和所述表箱的总表数据序列;根据所述电量数据序列和所述总表数据序列建立矩阵方程;根据所述矩阵方程和预设约束条件确定所述表箱内各子表的异常系数,并根据所述异常系数判断对应的子表是否计量失准。该分析方法从表箱端出发,得到的电能表计量失准分析结果准确度高,且分析方法逻辑简单,效率高。
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公开(公告)号:CN113590149A
公开(公告)日:2021-11-02
申请号:CN202110726849.7
申请日:2021-06-29
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F8/65 , G06F9/4401
Abstract: 本发明涉及计算机技术领域,其实施例提供一种程序分段加载运行的方法及装置。该方法包括设置用于引导程序的启动引导程序,以及将所述程序进行分段加载运行,所述方法还包括:设置加载地址,所述加载地址作为将要被加载的程序段的前一程序段的参数,用于标识所述将要被加载的程序段的地址;设置导出函数列表,所述导出函数列表用于存储已被加载的程序段中的供后续程序段所调用的函数;设置查表函数,所述查表函数用于根据所述查表函数的输入参数执行所述导出函数列表中的函数;以及通过所述加载地址、导出函数列表和查表函数实现所述程序的分段加载运行。本发明提升了程序加载的灵活性。
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公开(公告)号:CN119997258A
公开(公告)日:2025-05-13
申请号:CN202510005042.2
申请日:2025-01-02
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: H04W76/10 , G08C17/02 , H04W72/0453
Abstract: 本申请公开了一种通信方法、通信装置、电子设备和可读存储介质,属于通信技术领域。该方法包括:根据接收到的目标被测表计的表号,查询当前各检测装置的空余检定位,确定目标被测表计对应的目标检测装置的目标检定位;确定目标被测表计对应的表号、通信频率和通信地址间的绑定关系;向目标检测装置发送所述绑定关系,以使得目标被测表计根据通信频率和通信地址,与目标检测装置建立通信连接。本申请根据检测装置的坐标和检定位的位号确定通信频率,优化了被测表计与检测装置之间的通信连接建立过程,提高了通信频率的利用率。
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公开(公告)号:CN119106436A
公开(公告)日:2024-12-10
申请号:CN202411250520.8
申请日:2024-09-06
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司
IPC: G06F21/57
Abstract: 本发明公开了一种系统启动时的安全校验方法、装置、设备、介质和产品。该方法包括:响应于上电复位操作,确定第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序;按照软件启动顺序进行逐次循环校验,得到对应的校验结果;其中,校验至少包括下述之一:第一类型软件和第二类型软件之间的安全校验、接入系统的第三方机构校验、反校验;在校验结果通过的情况下,确定系统安全启动。本发明实施例,通过在系统启动过程中,确定所包含第一类型软件和第二类型软件的软件启动顺序,按照软件启动顺序进行逐次循环校验和反校验,形成三方循环校验的方式,实现系统的安全启动校验。
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公开(公告)号:CN117234417A
公开(公告)日:2023-12-15
申请号:CN202310952821.4
申请日:2023-07-31
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F3/06
Abstract: 本发明提供一种文件系统均衡擦写验证方法、装置和电子设备,属于计算机技术领域。方法包括:重复执行以下步骤直至达到预设次数:确定当前擦写的闪存扇区序号;将非易失性存储器中存储的闪存扇区序号对应的擦写次数进行加一操作;执行擦写程序以向闪存中写入大于一个扇区长度的数据;基于非易失性存储器中存储的所有闪存扇区序号的擦写次数,确定所有闪存扇区序号的擦写次数的平均值;基于每个闪存扇区序号的擦写次数与平均值的设定阈值范围的对比结果,确定文件系统均衡擦写的验证结果。本发明用以解决现有的文件系统的均衡擦写验证方法需依赖外部工具,并且验证方法不够直观有效的缺陷。
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公开(公告)号:CN115373610B
公开(公告)日:2023-08-18
申请号:CN202211310652.6
申请日:2022-10-25
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
IPC: G06F3/06 , G06F12/0877
Abstract: 本发明公开了一种数据写入方法、装置、电子设备及存储介质,其中,方法包括:确定缓存写满时,将缓存中的数据划分为N个数据块,N为大于1的整数;将N个数据块依次写入非易失性存储器中,并且在将第i个数据块写入非易失性存储器之前,判断是否存在优先级更高的线程需要使用非易失性存储器,其中,1<i≤N;若存在优先级更高的线程需要使用非易失性存储器,则暂停将第i个数据块写入非易失性存储器,以便执行线程。该方法通过将缓存中的数据分成了N个数据块,大大缩短每次数据写入占用的时间,避免了数据写入占用的时间较长导致优先级翻转的情况发生,从而提高了操作系统的实时性。
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