公开(公告)号：CN117097112A

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN202311069828.8

申请日：2023-08-23

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张晶晶 ,  张学磊 ,  原义栋 ,  胡毅 ,  杨巍

IPC: H02M1/00 ,  H02M1/38 ,  H02M1/088 ,  H02M3/158 ,  H02P7/03

Abstract: 本发明公开了一种驱动芯片死区时间的测量装置、系统和方法，驱动芯片死区时间的测量装置包括：可调电阻电路，与驱动桥臂的中点连接，用于在上桥臂导通、下桥臂关断时，为当前通路提供第一预设阻值的电阻，以及在上桥臂关断、下桥臂导通时，为当前通路提供第二预设阻值的电阻，其中，中点为上桥臂与下桥臂之间的连接点；第一直流电源，连接在可调电阻电路与地之间，第一直流电源用于提供第一直流电压；波形采集器，与中点连接，用于采集中点输出的波形。本发明实施例的驱动芯片死区时间的测量装置，操作简单，测量结果直观，并且，能够灵活调整上升/下降沿幅值以及内部控制开关流过的电流，便于全面的评估死区时间。

公开(公告)号：CN118330337A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202410267548.6

申请日：2024-03-08

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 张晶晶 ,  张学磊 ,  原义栋 ,  胡毅 ,  张晨慢 ,  于景意

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28

Abstract: 本申请公开了一种测试板使用时长确定方法、装置及系统，方法包括：获取测试板在每次HTOL测试时的工作参数；根据测试板在每次HTOL测试时的工作参数确定测试板在每次HTOL测试时处于高温供电状态的时长、处于高温未供电状态的时长及处于供电非高温状态的时长；根据测试板在每次HTOL测试时处于高温供电状态的时长、处于高温未供电状态的时长及处于供电非高温状态的时长确定测试板的累计使用时长。本申请公开的上述技术方案，基于测试板的实际工作参数确定测试板的累计使用时长，以提高测试板累计使用时长确定的准确性和可靠性，从而便于在合适时刻对测试板进行更换，以提高测试板利用率，降低HTOL测试成本。