公开(公告)号：CN117214668A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311267046.5

申请日：2023-09-27

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 胡琦深 ,  张学磊 ,  杨旭浩 ,  孙昕 ,  孙云龙 ,  温立国

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种芯片测试电路及芯片测试系统，其中，芯片测试电路包括：第一测试单元，被配置为在采用第一连接方式与待测芯片相连的情况下，对待测芯片的开关引脚线路上的输出电压和输出电流进行检测；第二测试单元，被配置为与待测芯片相连的情况下，对待测芯片的输出电压和输出电流进行检测；处理单元，处理单元的输入端分别与第一测试单元的输出端和第二测试单元的输出端相连，处理单元被配置为根据待测芯片的输入电压和输入电流、开关引脚线路上的输出电压和输出电流、以及待测芯片的输出电压和输出电流对待测芯片的转化效率进行测试。该芯片测试电路保证了转换效率的准确性，并且不需要在待测芯片内增加测试模块，降低了设计、制造成本。

公开(公告)号：CN116338428A

公开(公告)日：2023-06-27

申请号：CN202310267673.2

申请日：2023-03-16

Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 孙云龙 ,  张学磊 ,  孙昕 ,  原义栋 ,  李思琦

IPC: G01R31/28 ,  H04L12/40 ,  H04L69/08

Abstract: 本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：接收第一开始测试指令，第一测试指令包括身份识别标识，且第一开始测试指令用于指示身份识别标识指示的目标芯片测试板开始测试目标任务；响应于第一开始测试指令，将第一开始测试指令转换为遵循CAN总线协议的第二开始测试指令，目标芯片测试板为至少两个芯片测试板中的芯片测试板；通过CAN总线发送第二开始测试指令。该方法可以通过CAN总线将遵循CAN总线协议的开始测试指令传输至至少两个芯片测试板以进行测试，从而可以实现批量芯片测试且测试线路简洁，也降低了测试成本。