公开(公告)号：CN109656870B

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN201811378251.8

申请日：2018-11-19

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 于婷婷 ,  王硕 ,  庞永江 ,  文治平 ,  陈雷 ,  李学武 ,  张帆 ,  李金潮

IPC: G06F15/78 ,  G06F9/445 ,  G06F11/10

Abstract: 一种SRAM型FPGA在轨动态重构管理的系统及方法，支持最多四通道、六种型号SRAM型FPGA，具备上电配置、动态配置、定时刷新、回读刷新、定时回读、动态重构、轮询校验的能力，多项工作任务在动态重构管理芯片的统一调度下进行切换，通过硬控制信号或串口控制指令进行工作模式调整，并且通过串口控制指令能够获取内部工作状态信息。

公开(公告)号：CN108768394A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201711458673.1

申请日：2017-12-28

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 朱志强 ,  冯长磊 ,  李学武 ,  陈雷 ,  王媛媛 ,  李金潮

IPC: H03M1/10

CPC classification number: H03M1/1085 ,  H03M1/1095

Abstract: 一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，包括上位机和测试板；上位机负责测试结果显示及存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；测试板负责产生微系统ADC单元输入信号和采样时钟，并完成ADC单元输出数据采集、存储及处理，最终得到微系统ADC单元主要动态性能参数。本发明充分利用微系统内部集成的FPGA单元高速数据处理能力，通过微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，减少额外数据传输的开销以及信号间的干扰，系统可以对数模混合微系统ADC单元动态参数进行可靠准确的测试。

公开(公告)号：CN108768394B

公开(公告)日：2022-01-11

申请号：CN201711458673.1

申请日：2017-12-28

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 朱志强 ,  冯长磊 ,  李学武 ,  陈雷 ,  王媛媛 ,  李金潮

IPC: H03M1/10

Abstract: 一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，包括上位机和测试板；上位机负责测试结果显示及存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；测试板负责产生微系统ADC单元输入信号和采样时钟，并完成ADC单元输出数据采集、存储及处理，最终得到微系统ADC单元主要动态性能参数。本发明充分利用微系统内部集成的FPGA单元高速数据处理能力，通过微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，减少额外数据传输的开销以及信号间的干扰，系统可以对数模混合微系统ADC单元动态参数进行可靠准确的测试。

公开(公告)号：CN109656870A

公开(公告)日：2019-04-19

申请号：CN201811378251.8

申请日：2018-11-19

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 于婷婷 ,  王硕 ,  庞永江 ,  文治平 ,  陈雷 ,  李学武 ,  张帆 ,  李金潮

IPC: G06F15/78 ,  G06F9/445 ,  G06F11/10

Abstract: 一种SRAM型FPGA在轨动态重构管理的系统及方法，支持最多四通道、六种型号SRAM型FPGA，具备上电配置、动态配置、定时刷新、回读刷新、定时回读、动态重构、轮询校验的能力，多项工作任务在动态重构管理芯片的统一调度下进行切换，通过硬控制信号或串口控制指令进行工作模式调整，并且通过串口控制指令能够获取内部工作状态信息。