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公开(公告)号：CN119892218A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202411911006.4
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04B10/077 , G06N3/0464
Abstract: 本发明属于光电测量技术领域，具体涉及了一种电光强度调制器的瞬态响应测量系统及方法，旨在解决现有的测量手段因测量仪器受限无法实现高精度、超宽带测量的问题。本发明包括信号产生模块和响应测量模块；所述信号产生模块，用于产生采样光、标准脉冲信号及异步采样触发信号，并将所述采样光和所述标准脉冲信号分别输入所述待测电光强度调制器；其中，所述待测电光强度调制器输出降频采样后的光信号；所述响应测量模块，用于基于所述降频采样后的光信号得到电信号后，基于所述异步采样触发信号对所述电信号进行采集及降频采样还原处理，并通过反卷积计算去除标准脉冲信号波形得到所述待测电光强度调制器的瞬态响应。本发明能够实现超宽带测量。
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公开(公告)号：CN117629427A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311369957.9
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本申请公开了一种太赫兹脉冲绝对幅度校准方法，包括以下步骤：低频稳幅源输出被测信号到共面波导传输线，使用飞秒激光起偏后聚焦到所述共面波导传输线的地电极和信号电极中间的缝隙中，入射的光束在被测信号电场作用下偏振态发生改变，检测偏振态的变化量为第一测试值，标定所述低频稳幅源输出信号强度为第一信号强度；将所述低频稳幅源更换为太赫兹脉冲信号产生器，检测偏振态的变化量为第二测试值，根据第二测试值和标定关系，确定太赫兹脉冲信号产生器输出的绝对幅度。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请解决现有技术无法获得脉冲参数的绝对幅度值的问题。
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公开(公告)号：CN114384458B
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202111672358.5
申请日：2021-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种超宽带波形分析仪上升时间的校准装置及校准方法，属于上升时间的校准装置领域，所述的校准装置包括连续激光器、相位调制器Ⅰ、相位调制器Ⅱ、可编程光滤波器、控制机、光纤放大器、高速光电探测器、射频放大器Ⅰ、射频放大器Ⅱ、移相器、功率分配器、频率综合器、参考时钟、触发信号发生器，本发明采用梳状光信号生成处理及高速光电探测器转换的方法实现了几个皮秒的标准快沿阶跃电脉冲信号产生，解决了超宽带波形分析仪上升时间的校准难题，实现了超宽带波形分析仪上升时间的直接校准，提升了超宽带波形分析仪上升时间的校准能力。
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公开(公告)号：CN119470326A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202410293018.9
申请日：2024-03-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01
Abstract: 本发明实施例公开一种基于太赫兹拓扑绝缘体的电光取样装置。在一具体实施方式中，该装置包括：太赫兹电磁波链路结构、电光取样芯片、光学链路结构和平衡光电探测器，所述太赫兹电磁波链路结构，用于实现输入太赫兹电磁波和输出太赫兹电磁波的传输；所述光学链路结构，用于实现输入采样光和输出采样光的传输；所述电光取样芯片，用于将输入太赫兹电磁波在电光取样芯片表面的太赫兹拓扑波导结构中传输，得到输出太赫兹电磁波；还用于将输入采样光和输入太赫兹电磁波在电光取样芯片中产生电光作用，得到输出采样光；所述平衡光电探测器，用于将输出采样光转换为电流信号。本发明具有传输损耗小，抗干扰能力强、体积小可集成等优点。
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公开(公告)号：CN118534298A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410694858.6
申请日：2024-05-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请公开了一种芯片测试系统和方法，解决了现有技术电光取样中较强寄生参数的问题。一种芯片测试系统，包含倒装芯片互联模块。所述倒装芯片互联模块，包含第一共面波导、第二共面波导和倒装凸点。所述第一共面波导和第二共面波导均包含介质基板和信号线，所述信号线紧贴在介质基板上表面。所述倒装凸点设置在共面波导的介质基板上表面，与信号线一端连接。所述第一共面波导和第二共面波导设置倒装凸点的信号线端点正对。本申请具有带宽大和损耗小的优势，传输性能好；倒装芯片技术具有寄生少且在高频封装中提供了良好的性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118067243A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410293929.1
申请日：2024-03-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种太赫兹电磁波电光测量装置及方法，在一具体实施方式中，该装置主要包括：薄膜铌酸锂衬底、介质棒波导和标准接口转换波导，所述标准接口转换波导，用于接收待测的太赫兹电磁波，并将其馈入所述介质棒波导；所述介质棒波导，用于将馈入的太赫兹电磁波以第一角度传输到所述薄膜铌酸锂衬底上；所述薄膜铌酸锂衬底，用于将入射的采样激光脉冲与入射的太赫兹电磁波相互作用后输出携带太赫兹电磁波的激光脉冲至光电探测器。本发明所述装置其光学系统大大简化，不受限于晶体材料本身，可与电光晶体作用实现，测量带宽大，灵敏度高，信噪比强。
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公开(公告)号：CN117767921A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311371096.8
申请日：2023-10-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03K4/94
Abstract: 本申请公开了一种脉冲信号生成方法，包括以下步骤：根据周期性梯形脉冲信号的傅里叶级数在设定频段的最高频率分量系数和最低频率分量系数幅度之比趋近频谱平坦度指标，确定一组脉冲宽度目标值和脉冲上升时间目标值；根据所述脉冲宽度目标值和脉冲上升时间目标值，确定所述周期性梯形脉冲信号的傅里叶级数在所述最高频率的K倍范围内的各频率分量系数；根据所述各频率分量的组合生成时域脉冲信号。本申请还包含用于实现所述方法的装置。本申请解决根据标准限定的部分频域指标不便于确定时域脉冲波形的问题，可以通过脉冲信号的一部分参数要求获得脉冲信号的具体波形。
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公开(公告)号：CN117311021A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202311148829.1
申请日：2023-09-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种全光纤化电光取样探头、取样模块及测量系统，解决了现有技术体积大，抗干扰能力差的问题。电光取样探头，包含：所述保偏单模光纤输入端，用于接收采样光并传输至电光晶体。所述输入光准直器，设置在保偏单模光纤输入端和电光晶体之间，用于将采样光整形为平行光束。所述电光晶体，用于对采样光进行电光作用后发送至电光晶体高反介质膜面。所述电光晶体高反介质膜面，用于接收并逆转采样光，使采样光原路返回从保偏单模光纤输入端离开。本申请具有测试频带广、抗电磁干扰能力强、系统调试简单、稳定性强等优点，技术优势明显。
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公开(公告)号：CN119902388A
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202411684009.9
申请日：2024-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种非共面行波电极电光调制器，涉及微波光子器件和光电测量技术领域，通过将非共面贴片天线与薄膜铌酸锂光波导结构构建到一个器件中，利用贴片天线直接作为调制器的行波电极，可实现自由空间太赫兹信号与波导内光信号的直接转换。同时，由于非共面行波电极结构的引入，可增强太赫兹波在电光晶体垂直方向的电场分量，有效提高器件电光转换效率，增强器件工作带宽，能够有效解决太赫兹波的空间相位调制问题。本发明中所提供的基于非共面行波电极电光调制器的电光采样系统，具有宽频带、抗干扰能力强等特点，可实现对太赫兹波的高效探测，技术优势明显。
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公开(公告)号：CN119826885A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411970685.2
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01D18/00
Abstract: 本发明属于电光测量技术领域，并具体公开了一种用于电光取样系统的幅度测量误差修正系统及方法，包括：飞秒激光器，用于输出超快激光脉冲，以作为采样光；起偏器，用于将采样光转换为线偏振光并传输至所述共面波导；稳幅信号源，用于将输出的稳定的电压信号传输至共面波导；共面波导，用于使线偏振光在稳定的电压信号作用下产生偏振态变化，形成偏振态变化的光并传输至非偏振分束镜；非偏振分束镜，用于将偏振态变化的光分束为两束光，其中一束经过所述检偏器A输入至光电探测器A，另一束经过所述四分之一波片和所述检偏器B输入至所述光电探测器B；信号采集处理模块，用于对所述光电探测器A和光电探测器B输出的数据进行误差修正。
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