公开(公告)号：CN116087856A

公开(公告)日：2023-05-09

申请号：CN202211708038.5

申请日：2022-12-29

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 范伯昊 ,  王硕 ,  袁宝

IPC: G01R35/00 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明属于芯片天线测量领域，具体涉及了一种芯片天线测量校准装置及方法，旨在解决现有的天线校准系统不适用芯片天线的计量的问题。本发明包括：射频信号子系统包括矢量网络分析仪、扩频模块、接收天线，用于电磁波信号的接收和发射；芯片天线馈电平台包括探针台、晶圆探针、显微镜，在显微镜的控制下，利用设置于探针台的晶圆探针精确接触天线馈电点进行馈电；三维扫描子系统包括三维扫描架、空间位置测量模块以及位置控制模块，用于按照设定的轨迹进行运动以实现待测天线的辐射方向图扫描测量。本发明实现了芯片天线方向图和增益的精确计量。

公开(公告)号：CN116047436A

公开(公告)日：2023-05-02

申请号：CN202211732927.5

申请日：2022-12-30

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 王硕 ,  颉逍 ,  袁宝 ,  刘星汛 ,  齐万泉 ,  马蔚宇

IPC: G01S7/40 ,  G01S17/06

Abstract: 本说明书公开了一种有源相控阵雷达天线的近场幅相校准方法、系统、设备，涉及相控阵雷达天线校准技术领域，旨在解决现有技术对相控阵雷达天线进行近场校准鲁棒性较差的问题。本发明方法包括：对各发射通道一一进行平面扫描，获取相控阵雷达天线的各发射通道的幅度值、相位值；计算幅度值、相位值的误差，并基于误差对各发射通道进行校准；判断是否需要重新进行平面扫描，若否，则计算待测的发射通道的幅度值、相位值；获取待测的发射通道对应的参考阵面的幅度值、相位值，计算幅度值、相位值之间的误差，并基于误差对待测的发射通道再次进行校准。本发明提高了雷达天线方向图的补偿精度和效率，解决了有源相控阵雷达天线的幅相校准鲁棒性差问题。

公开(公告)号：CN116559753A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202310665915.3

申请日：2023-06-06

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 史泽芳 ,  马永光 ,  袁岩兴 ,  范伯昊 ,  袁宝

IPC: G01R35/00

Abstract: 本发明公开一种紧缩场静区平面波幅相特性自动化校准系统和方法，所述系统包括：微波幅相单元、扫描设备单元和中心控制单元；微波幅相单元，用于接收信号并对所述信号进行幅度和相位测量；扫描设备单元，用于控制检测探头的接收位置和姿态；中心控制单元，用于对微波幅相单元和扫描设备单元远程控制，实时分析幅度和相位数据，自动化计算静区特性。根据扫描数据完成静区场幅度不平度、静区场相位不平度和静区场交叉极化三个指标量化，根据结果来评判紧缩场测试系统的性能，对于紧缩场初检和复检具有参考意，本发明还可帮助用户初检及后续复检紧缩场测试系统的性能。