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公开(公告)号：CN103542842B
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201310522306.9
申请日：2013-10-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01C15/02
Abstract: 本发明公开了一种用于RS105系统传感器的光学定位装置，包括主体板和水平板；主体板板体上设有三行五列的阵列标记孔，所述标记孔为十五个；同行向相邻两标记孔孔中心之间的距离a1为25厘米，同列向相邻两标记孔孔中心之间的距离d1为50厘米；所述水平板通过合页与所述主体板的底端外侧面转动连接，该水平板的上板面上设有一双向激光器，所述主体板的板体长度L1为1米。本发明能够直接确定传感器的位置，减少了手动测量定位的环节，提高了测试精度的同时也提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN103115639B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310028676.7
申请日：2013-01-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01D11/16
Abstract: 一种基准定位器，包括定位连接盘A和定位连接盘B；定位连接盘A和定位连接盘B之间的夹角为90度；所述定位连接盘A下表面固设有磁铁A；所述定位连接盘B下表面固设有磁铁B;所述定位连接盘A和定位连接盘B之间通过弧形连接桥连接；所述定位连接盘A上设有基准边A;所述定位连接盘B上设有基准边B;所述基准边A和基准边B之间的夹角呈90度。本发明可进行基准点及整个测试方位的定位；可为外围测试装置提供定位基准及连接装置；可进行快速定位，提高测试工作效率；成本低，结构简单，携带方便。
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公开(公告)号：CN102830293B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201210309485.3
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种快速校准瞬变电磁场场均匀性的方法及系统，该方法包括如下步骤：选定矩形校准平面的顶点为测量点；将转轴(2)置于校准平面的中心，通过调节定位装置(4)使得测试杆(3)被限定在校准平面内，通过选择测试杆(3)的长度使得探头(6)能够到达校准平面的各顶点处；在校准平面内转动测试杆(3)，使得探头(6)分别位于校准平面的各顶点处，通过探头(6)测量得到校准平面的各顶点处的场强值。所述方法及系统不需要频繁移动用于支撑和固定探头的支架的位置，并且支架的位置固定后，也不需要反复调整探头在支架上的具体位置和角度。所述方法及系统的校准过程简便，校准速度快，校准耗时短。
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公开(公告)号：CN102830290B
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201210309047.7
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162)；第一探头(3)固定于第一测试杆(141)上，第二探头(4)固定于第二测试杆(142)上，且第一探头(3)和第二探头(4)与示波器(2)电连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。所述系统的支架既能用于支撑和固定探头，又能用于调节探头的位置和角度。所述系统的支架对探头位置和角度的调节精度高。
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公开(公告)号：CN102830292B
公开(公告)日：2014-06-18
申请号：CN201210309353.0
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的系统，该系统包括支架(1)、示波器(2)和至少一个探头(3)，支架(1)包括支撑杆(11)、安装座(12)、旋转环(13)、定位环(14)、旋转盘(15)、旋钮(16)和测试杆(17)，测试杆(17)上设有至少一个探头固定装置(171)，探头(3)通过探头固定装置(171)固定于测试杆(17)上，探头(3)与示波器(2)电连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。所述系统的支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度。与现有技术的校准系统相比，所述系统对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快。所述系统的支架对探头的位置和角度的调节精度高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103115640A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310028680.3
申请日：2013-01-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01D11/16
Abstract: 一种基准定位器，包括定位连接盘A、定位连接盘B、吸盘A和吸盘B；吸盘A上各设一个吸盘拉手A；吸盘B上各设一个吸盘拉手B；所述定位连接盘A和定位连接盘B之间通过弧形连接桥连接，该弧形连接桥形成的弧形空间区域为探头放置区；所述定位连接盘A的中心设有一个通孔A，定位连接盘A的下方设吸盘A；所述定位连接盘B的中心设有一个通孔B，定位连接盘B的下方设吸盘B；所述定位连接盘A上设有基准边A;所述定位连接盘B上设有基准边B。本发明可进行基准点及整个测试方位的定位；可为外围测试装置提供定位基准及连接装置；可进行快速定位，提高测试工作效率；成本低，结构简单，携带方便。
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公开(公告)号：CN102840429A
公开(公告)日：2012-12-26
申请号：CN201210308641.4
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于快速校准瞬变电磁场场均匀性的新型支架，该支架包括支撑杆(1)、定位环(2)、旋转盘(3)、旋钮(4)和测试杆(5)，定位环(2)设于支撑杆(1)的顶端，定位环(2)的内周侧设有多个凹槽(21)，定位环(2)的中心设有至少一个连接键(22)，每个连接键(22)的一端与旋钮(4)固接，每个连接键(22)的另一端与定位键(23)铰接，旋转盘(3)的一侧设有外径小于定位环(2)内径的凸缘(31)，凸缘(31)上设有与定位键(23)配合的缺口(32)，旋转盘(3)的中心设有转轴(33)，凸缘(31)穿进定位环(2)，且定位键(23)能够穿过缺口(32)，旋钮(4)安装于转轴(33)上，且旋钮(4)能够绕转轴(33)转动，测试杆(5)固接于旋转盘(4)的一侧。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，能够使校准速度明显加快。
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公开(公告)号：CN102829296A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210308634.4
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支撑装置，该支撑装置包括底座(1)、转轴(2)、主体架(3)、第一旋转盘(4)、第二旋转盘(5)、第一探头固定装置(6)和第二探头固定装置(7)；所述底座(1)包括固定盘(11)、第一座臂(12)和第二座臂(13)；所述主体架(3)包括测试杆(31)、第一支杆(32)、第二支杆(33)、第一立柱(34)和第二立柱(35)。当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度。所述支架对探头的位置和角度的调节精度高。所述支架制作成本低，使用方便。
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公开(公告)号：CN102749530A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210209542.0
申请日：2012-02-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种瞬变电磁场的场均匀性的校准方法。该方法包括如下步骤：在待校准区域内选定一个参考点和多个测量点，参考点与多个测量点的位置不同；对每一个测量点，同时测量该测量点和参考点的电磁场，分别得到每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值；根据每一测量点的场强值和与该测量点相应的参考场强值计算该测量点的归一化场强值；根据所有测量点的归一化场强值得到待校准区域内瞬变电磁场的场均匀性。
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公开(公告)号：CN102841263B
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201210308623.6
申请日：2012-08-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的装置，该装置包括支撑架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；所述支撑架(1)包括底座(11)、转轴(12)、主体架(13)、第一旋转盘(14)、第二旋转盘(15)、第一探头固定装置(16)和第二探头固定装置(17)；所述第一探头(3)固定于第一探头固定装置(16)上，所述第二探头(4)固定于所述第二探头固定装置(17)上，所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接；所述底座(11)包括固定盘(111)、第一座臂(112)和第二座臂(113)；所述主体架(13)包括测试杆(131)、第一支杆(132)、第二支杆(133)、第一立柱(134)和第二立柱(135)。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准速度明显加快。所述装置对瞬变电磁场场均匀性的校准精度高。
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