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公开(公告)号：CN105428803A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510956075.1
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种双旋转抛物面振子天线，解决目前标准辐射源天线主波束方向随频率不同偏离水平方向、导致增益低的问题。本发明包含上振子、下振子、连接装置，所述上振子和下振子的外表面为相同形状的旋转抛物面。所述连接装置包含同轴连接器、内导体、绝缘体；所述绝缘体第二端的端面和所述上振子的外表面共形，作为本发明的典型实施例，旋转抛物面的旋转曲线方程的指数项系数为0.06，斜率为0.1,辐射间距为2mm，所述上振子和所述下振子的半径最大值为48.5mm，本发明的典型实施例实现了超宽带(1GHz～18GHz)范围的水平全向标准辐射场。本发明采用改变振子缝隙为曲线间隔的方式增强了超宽带振子天线在水平方向增益。
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公开(公告)号：CN104678339B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201510072783.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置，该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端，所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架；所述标准微带线，用于传输由微波信号输入端输入的微波信号；所述微波信号输出端，用于输出来自标准微带线的微波信号；所述探针负极触盘采用切角设计；所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点，用于对探针进行定位。本发明所述技术方案，基于电路并联等压原理，可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数，适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准，能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105428803B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201510956075.1
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种双旋转抛物面振子天线，解决目前标准辐射源天线主波束方向随频率不同偏离水平方向、导致增益低的问题。本发明包含上振子、下振子、连接装置，所述上振子和下振子的外表面为相同形状的旋转抛物面。所述连接装置包含同轴连接器、内导体、绝缘体；所述绝缘体第二端的端面和所述上振子的外表面共形，作为本发明的典型实施例，旋转抛物面的旋转曲线方程的指数项系数为0.06，斜率为0.1,辐射间距为2mm，所述上振子和所述下振子的半径最大值为48.5mm，本发明的典型实施例实现了超宽带(1GHz～18GHz)范围的水平全向标准辐射场。本发明采用改变振子缝隙为曲线间隔的方式增强了超宽带振子天线在水平方向增益。
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公开(公告)号：CN104678339A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510072783.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置，该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端，所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架；所述标准微带线，用于传输由微波信号输入端输入的微波信号；所述微波信号输出端，用于输出来自标准微带线的微波信号；所述探针负极触盘采用切角设计；所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点，用于对探针进行定位。本发明所述技术方案，基于电路并联等压原理，可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数，适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准，能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。
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公开(公告)号：CN104569943A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800369.0
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。
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公开(公告)号：CN104569932A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410812458.7
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/40 , G01S7/026 , G01S7/4004
Abstract: 本发明公开一种用于全极化雷达散射截面测量的校准装置，包括支架和椭圆形直角二面角，支架包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；安装平台上设有安装座，二面角支撑臂的一端可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行，椭圆形直角二面角固设在所述二面角支撑臂的另一端；椭圆形直角二面角在横截面的投影为圆形。本发明中的椭圆形直角二面角横截面为圆形，即不同横滚角下椭圆形直角二面角对应雷达散射截面测量系统辐射场的相同部分，具有横滚稳定性；椭圆形直角二面角在横滚角22.5°时其主极化与交叉极化散射场相等，与理想二面角的主极化和交叉极化的定量关系一致。
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公开(公告)号：CN204269819U
公开(公告)日：2015-04-15
申请号：CN201420827863.1
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本实用新型公开一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架，包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；所述安装平台上设有安装座，所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行。采用上述结构后降低了支架对二面角散射场测量的影响，提高了雷达散射截面测量系统校准的准确度。
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