公开(公告)号：CN114184099A

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN202111297752.5

申请日：2021-11-04

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 李秀华 ,  曹菲 ,  许剑锋 ,  周述勇 ,  童琼 ,  徐源

IPC: F42C21/00

Abstract: 本申请公开了一种测量引信时延的方法，将高频调制的引信信号经过被测引信设备延时后变频至中频，生成被测信号；将所述高频调制的引信信号直接变频至中频，生成参考信号；对被测信号和参考信号进行互相关计算，得到时延初值；对被测信号和参考信号分别进行希尔伯特变换，进而得到相位差值；调整引信信号的频率、跨多个周期对被测信号和参考信号分别进行希尔伯特变换，进而得到新的相位差值后，计算得到被测引信信号的延时值。本申请还包含实现所述方法的装置。本申请解决现有技术测量精度不高的问题。

公开(公告)号：CN114184099B

公开(公告)日：2023-09-22

申请号：CN202111297752.5

申请日：2021-11-04

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 李秀华 ,  曹菲 ,  许剑锋 ,  周述勇 ,  童琼 ,  徐源

IPC: F42C21/00

Abstract: 本申请公开了一种测量引信时延的方法，将高频调制的引信信号经过被测引信设备延时后变频至中频，生成被测信号；将所述高频调制的引信信号直接变频至中频，生成参考信号；对被测信号和参考信号进行互相关计算，得到时延初值；对被测信号和参考信号分别进行希尔伯特变换，进而得到相位差值；调整引信信号的频率、跨多个周期对被测信号和参考信号分别进行希尔伯特变换，进而得到新的相位差值后，计算得到被测引信信号的延时值。本申请还包含实现所述方法的装置。本申请解决现有技术测量精度不高的问题。