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公开(公告)号：CN105806239A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610323690.3
申请日：2016-05-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/14
CPC classification number: G01B11/14
Abstract: 一种激光扫描式星敏感器离焦量快速检测方法，步骤为：一、将激光器(1)对准星敏感器的光学系统(2)入瞳圆周上的一点照射，星敏感器探测器采集激光器(1)光束汇聚在星敏感器探测器上的弥散斑，记录此时激光器(1)位置a1和弥散斑位置h1；二、将激光器(1)沿光学系统(2)直径方向移动，移动距离为光学系统入瞳直径D，记录此时激光器(1)位置a2和星敏感器探测器上弥散斑位置h2；三、计算弥散斑位置h1和弥散斑位置h2间的距离Lo，判断弥散斑运动方向；四、计算星敏感器探测器相对于光学系统工程焦面(4)的离焦量Δf。本发明解决了目前无法定量测量星敏感器焦面离焦量的问题，同时可以满足快速、非接触的使用要求。
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公开(公告)号：CN105890625B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201610206650.0
申请日：2016-04-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，包括：步骤一、安装测试系统；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG90；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi；步骤四、将IMGNi与IMG90相减，得到不同角度θi对应的图像数据IMGi；步骤六、计算图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DN；步骤七、计算杂光照度Eccd(i)：步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题，测试准确度高，适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试，通用性强。
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公开(公告)号：CN105806239B
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201610323690.3
申请日：2016-05-16
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01B11/14
Abstract: 一种激光扫描式星敏感器离焦量快速检测方法，步骤为：一、将激光器(1)对准星敏感器的光学系统(2)入瞳圆周上的一点照射，星敏感器探测器采集激光器(1)光束汇聚在星敏感器探测器上的弥散斑，记录此时激光器(1)位置a1和弥散斑位置h1；二、将激光器(1)沿光学系统(2)直径方向移动，移动距离为光学系统入瞳直径D，记录此时激光器(1)位置a2和星敏感器探测器上弥散斑位置h2；三、计算弥散斑位置h1和弥散斑位置h2间的距离Lo，判断弥散斑运动方向；四、计算星敏感器探测器相对于光学系统工程焦面(4)的离焦量Δf。本发明解决了目前无法定量测量星敏感器焦面离焦量的问题，同时可以满足快速、非接触的使用要求。
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公开(公告)号：CN105890625A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610206650.0
申请日：2016-04-05
Applicant: 北京控制工程研究所
IPC: G01C25/00
CPC classification number: G01C25/00
Abstract: 一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法，包括：步骤一、安装测试系统；步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG90；步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角，测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi；步骤四、将IMGNi与IMG90相减，得到不同角度θi对应的图像数据IMGi；步骤六、计算图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DN；步骤七、计算杂光照度Eccd(i)：步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题，测试准确度高，适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试，通用性强。
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