公开(公告)号：CN102928343B

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201210458688.9

申请日：2012-11-15

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 张虎 ,  孙红胜 ,  陈应航 ,  王加朋 ,  任小婉 ,  宋春晖 ,  李世伟

IPC: G01N21/00

Abstract: 本发明提供了一种高温材料发射率测量方法和系统，其中所述系统包括大功率辐射源、扩束整形均束装置、真空仓、样品测试平台、旋转反射镜、显微成像装置、光谱切换装置、辐射能量成像测量装置、温度测量装置。本发明通过在被测样品上加工出黑体空腔，并用成像方法对被测材料表面和黑体空腔的辐射能量同时测量，采用窄带滤光片进行光谱选择，不仅能够保证被测材料和标准参考样品测量的同时性，也能够保证样品和参考源的完全等温，能够显著减少发射率测量的误差来源，提高测量准确度和测试的便利程度，有利于本发明的工程化应用。

公开(公告)号：CN102928343A

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN201210458688.9

申请日：2012-11-15

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 张虎 ,  孙红胜 ,  陈应航 ,  王加朋 ,  任小婉 ,  宋春晖 ,  李世伟

IPC: G01N21/00

Abstract: 本发明提供了一种高温材料发射率测量方法和系统，其中所述系统包括大功率辐射源、扩束整形均束装置、真空仓、样品测试平台、旋转反射镜、显微成像装置、光谱切换装置、辐射能量成像测量装置、温度测量装置。本发明通过在被测样品上加工出黑体空腔，并用成像方法对被测材料表面和黑体空腔的辐射能量同时测量，采用窄带滤光片进行光谱选择，不仅能够保证被测材料和标准参考样品测量的同时性，也能够保证样品和参考源的完全等温，能够显著减少发射率测量的误差来源，提高测量准确度和测试的便利程度，有利于本发明的工程化应用。