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发明公开
设备风险评估方法、计算机设备、介质及产品审中-实审

公开(公告)号：CN119494532A

公开(公告)日：2025-02-21

申请号：CN202411523625.6

申请日：2024-10-29

Applicant: 北京必可测科技股份有限公司

Inventor： 赵金民 , 李耀君 , 仝宁宁 , 安兆青 , 申懿龙 , 姜宇 , 黄俊飞

IPC: G06Q10/0635 , G06Q10/0639 , G06Q10/20

Abstract: 本申请公开了一种设备风险评估方法、计算机设备、介质及产品。涉及设备管理技术领域，该方法包括：获取待评估设备的多个第一劣化变量，并基于所述多个第一劣化变量确定待评估设备的综合状态劣化指数，所述综合状态劣化指数用于体现所述待评估设备的劣化程度；获取待评估设备的多个第二劣化变量，并基于所述多个第二劣化变量确定待评估设备的可用性指数，所述可用性指数为所述待评估设备的已使用寿命与设计寿命的比例；基于所述综合状态劣化指数和所述可用性指数，按照预定算法，确定所述待评估设备的风险值。本申请提高了风险评估的准确性。

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