公开(公告)号：CN117761420A

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202311532459.1

申请日：2023-11-16

Applicant: 北京微电子技术研究所 ,  北京新润泰思特测控技术有限公司 ,  北京时代民芯科技有限公司

Inventor： 胡会献 ,  陈建晟 ,  王斌 ,  张利辉 ,  张雨琪 ,  王永云 ,  何明瑞 ,  李星昊 ,  李东瑞

IPC: G01R31/00 ,  G05D23/19

Abstract: 本发明属于老化测试技术领域，具体涉及了一种系统级封装器件老化测试的系统及方法，旨在解决系统级封装器件老化测试结果不准确，存在偏差的问题。本发明包括：老化测试模块、温度控制模块、数据处理模块和系统控制模块；所述系统控制模块，用于根据外部输入的任务指令，发出控制信号，获取判断结果；所述老化测试模块，用于根据老化测试模块控制信号发出数字信号和/或模拟信号，获取待器件发出的测试反馈数据；所述温度控制模块，用于根据接收的温度控制模块控制信号和实时采集的待老化测试系统级封装器件环境温度；所述数据处理模块，用于基于测试反馈数据获得处理信息，判断系统运行状态和器件状态，保存判断结果并发送至系统控制模块。

公开(公告)号：CN117826048A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202311524545.8

申请日：2023-11-15

Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 ,  北京微电子技术研究所

Inventor： 王永云 ,  张利辉 ,  张雨琪 ,  胡会献 ,  李星昊 ,  何明瑞 ,  李东瑞

IPC: G01R35/00 ,  G01R31/00 ,  G01R19/25 ,  G01R15/09

Abstract: 本发明属于电子仪器领域，具体涉及一种老化箱故障诊断的方法、系统及设备，旨在解决目前市场上缺少老化箱信号检测和故障诊断的相关设备的问题。本发明包括：电源模块、电压电流检测模块、信号调理模块、波形发生模块、主控模块、显示模块和声光报警模块；在系统初始化阶段检测通过电压电流检测模块对各模块电压进行检测；对波形发生模块采集的待测老化箱数据并处理，获得波形参数，将波形参数发送至显示模块进行显示；当数据异常时，控制声光报警模块工作并通过串行通信接口将停止指令发送给待测老化箱；通过波形发生指令对波形发生模块进行控制，产生与显示模块的波形参数对应的波形。