公开(公告)号：CN101498647B

公开(公告)日：2011-01-19

申请号：CN200910119850.2

申请日：2009-03-20

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 孙天希 ,  刘志国 ,  滕玥鹏 ,  杨科

IPC: G01N15/14 ,  G01N23/227

Abstract: 基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，它包括X射线光源、针孔光阑、“坪区”毛细管X射线会聚透镜、样品、显微镜、探测器，本设备的核心部件是“坪区”毛细管X射线会聚透镜。由于“坪区”毛细管X射线会聚透镜微焦斑的“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，所以该谱仪特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析：快速获得元素特征峰相对强度与单颗粒在“坪区”中位置无关的能谱——单颗粒“指纹”谱。

公开(公告)号：CN101499327A

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200910119849.X

申请日：2009-03-20

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 刘志国 ,  孙天希 ,  滕玥鹏 ,  杨科

IPC: G21K1/06

Abstract: “坪区”毛细管X射线会聚透镜一种利用X射线全反射原理设计的X射线光学器件，它是利用多毛细管将发散的X射线会聚为带有“坪区”的微焦斑，“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，“坪区”的大小在1－60微米范围内，适用于对0.2－40keV范围内X射线进行会聚，“坪区”处X射线强度分布均匀度在2％－6％范围内，“坪区”处功率密度增益的数量级在102－103范围内。此种器件特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析。

公开(公告)号：CN101498647A

公开(公告)日：2009-08-05

申请号：CN200910119850.2

申请日：2009-03-20

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 孙天希 ,  刘志国 ,  滕玥鹏 ,  杨科

IPC: G01N15/14 ,  G01N23/227

Abstract: 基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，它包括X射线光源、针孔光阑、“坪区”毛细管X射线会聚透镜、样品、显微镜、探测器，本设备的核心部件是“坪区”毛细管X射线会聚透镜。由于“坪区”毛细管X射线会聚透镜微焦斑的“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，所以该谱仪特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析：快速获得元素特征峰相对强度与单颗粒在“坪区”中位置无关的能谱——单颗粒“指纹”谱。

公开(公告)号：CN201477030U

公开(公告)日：2010-05-19

申请号：CN200920145676.4

申请日：2009-03-20

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 孙天希 ,  刘志国 ,  滕玥鹏 ,  杨科

IPC: G01N15/14

Abstract: 基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，它包括X射线光源、针孔光阑、“坪区”毛细管X射线会聚透镜、样品、显微镜、探测器，本设备的核心部件是“坪区”毛细管X射线会聚透镜。由于“坪区”毛细管X射线会聚透镜微焦斑的“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，所以该谱仪特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析：快速获得元素特征峰相对强度与单颗粒在“坪区”中位置无关的能谱——单颗粒“指纹”谱。