一种基于光谱和纹理综合特征的植被异常识别方法及装置

    公开(公告)号:CN118135391A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311619457.6

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本发明提供一种基于光谱和纹理综合特征的植被异常识别方法及装置,方法包括:获取同一区域正常和异常状态下植被高分辨率遥感影像,构建正常及异常状态样本集;计算正常和异常状态样本的灰度共生矩阵,基于灰度共生矩阵,得到正常和异常状态样本的多个单独纹理特征;筛选得到区分度大的单独纹理特征;根据光谱指数计算公式对区分度大的单独纹理特征进行运算,构建单独纹理异常识别指标,计算单独纹理异常识别指标下的异常状态样本的异常识别精度,基于异常识别精度,得到Kappa系数;将Kappa系数作为权重系数,对单独纹理异常识别指标进行加权,得到基于光谱和纹理综合特征的植被异常识别模型。该方法可以提高植被异常识别结果的准确度。

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