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公开(公告)号：CN119707864A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202311283985.9
申请日：2023-09-28
Applicant: 北京师范大学
IPC: C07D279/34 , C07D265/38 , C07D471/04 , C07D417/10 , C07D417/04 , H10K85/60 , H10K50/11
Abstract: 本申请提供了一种式(I)所示的化合物及包含其的发光层主体材料、有机电致发光器件和显示装置。所述化合物稳定性高、成膜性好，所述化合物中引入供电子和吸电子基团，作为双极性发光层主体材料，能够平衡空穴与电子传输的特性，简化器件结构，利于有机电致发光器件的制备，并提高有机电致发光器件的发光效率和使用寿命。本申请提供的有机电致发光器件包含本申请的化合物作为发光层主体材料，具有更低的驱动电压、更好的发光效率和更长的使用寿命。本申请提供的显示装置具有优良的显示效果。#imgabs0#
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公开(公告)号：CN109187500A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201811134951.2
申请日：2018-09-28
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明公开了一种用于激光等离子体光学诊断仪，尤其是一种多通道主动式激光诊断仪。该诊断仪包括激光发生单元；反射单元；可调式变焦距系统；次级成像单元；分光单元；形状测量单元；电子密度、速度测量单元；磁场测量单元；数据信号处理单元。本诊断仪采用激光作为探针光照射待测物体，通过分光技术，可以多通道测量待测样品的阴影图像、干涉条纹特征图像、法拉第旋转图像。通过变焦距系统，可灵活调节待测物的空间距离和放大率。本发明结构设计简单、紧凑，便于移动，整体性强。同时利用平板电脑或笔记本电脑作为数据信号单元简单快速实时获得最终数据，使得操作简单，保证工作效率，有利于等离子体状态的研究。
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公开(公告)号：CN120058749A
公开(公告)日：2025-05-30
申请号：CN202311632539.4
申请日：2023-11-30
Applicant: 北京师范大学 , 烟台京师材料基因组工程研究院
IPC: C07F5/00 , C07D401/04 , C09K11/06 , H10K85/30 , H10K50/11
Abstract: 本申请提供了一种基于D‑A型含氮杂环镓复合物的OLED发光层客体材料及其应用，该化合物是D‑A型含氮配体镓(Ga)复合物如式(I)所示，配体是由一个含NH的给电子基团和一个含N的吸电子基团组成的D‑A型结构，该配体对材料性能有很大影响；该Ga复合物的发光性质不依靠金属原子，而是多个配体的多量子态耦合效应增强发光，通过采用电荷转移量大和阵子强度大的配体，可以有效调控镓复合物的发光波长，从而能够在有机电致发光器件中实现良好的发光效率、光稳定性和使用寿命；该Ga复合物结构比较简单，分子量较低，降低了合成成本和难度，且蒸镀温度较低。
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公开(公告)号：CN207180594U
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201720896984.5
申请日：2017-07-24
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本实用新型涉及一种用于激光等离子体光学诊断的干涉仪，尤其是一种双通道主动可调式干涉仪。用干涉法测密度已广泛的用于激光等离子体和磁性材料的探测研究中。本干涉仪采用激光作为探针光照射待测物体，通过分光技术，可以多通道测量待测样品的阴影图像、干涉条纹特征。本实验仪将激光器、等离子体参数测量和参照系统通过60mm笼式框架全部集成，统一固定在一个光学平台上，并集成于一个箱体之中。激光器被固定在箱体中，不再需要对激光器进行调整，使得操作简单，方便快捷，保证工作效率，有利于等离子体状态的研究，尤其在测量激光驱动的等离子体参数时减少了激光打靶发次，可以大幅度的节约成本。
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公开(公告)号：CN209624403U
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201920037765.0
申请日：2019-01-10
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本实用新型涉及一种双通道变焦式干涉系统，包括：激光发生单元，用于产生偏振的探针光，探针光透射过所述待测物后形成信息光；变焦单元和分束单元，沿信息光的传输方向依次设置，变焦单元通过变焦对信息光进行放大，分束单元将经过变焦单元放大后的信息光进行分束为形状测量光和密度测量光；形状测量单元，设置在来自分束单元的形状测量光的发射方向上，通过形状测量光测量待测物的形状；电子密度测量单元，设置在来自分束单元的密度测量光的发射方向上，通过密度测量光测量待测物的电子密度。本实用新型所提供的双通道变焦式干涉系统，方便地调节激光发生装置和待测物之间的距离，有利于对待测物密度及形状的观测。
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