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公开(公告)号：CN104808235B
公开(公告)日：2018-08-21
申请号：CN201410035835.0
申请日：2014-01-26
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明涉及一种具有自动换样功能的人体鼻拭子α射线剂量快速检测仪，其特点在于自动换样和连续快速检测，属于辐射剂量防护技术领域。该检测仪主要有α射线探测系统、样品架、外壳、真空系统、伺服电机和计算机组成。位于外壳间的样品架等分为5个腔室，旋转样品架可使每个腔室先后到达进样、抽真空、检测、真空放气和出样5个位置。在进出样位置，配有支架的鼻拭子靠重力装入样品架的工字型卡槽或脱离卡槽进入鼻拭子收集盒。抽真空位置腔室通过三通接机械泵，三通另一端通过快速真空保护阀接检测位置腔室。真空密封通过样品架与外壳的密封接触来实现。α射线检测由计算机自动控制，并在一个样品检毕后，通过伺服电机旋转样品架来实现自动换样。
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公开(公告)号：CN104808235A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201410035835.0
申请日：2014-01-26
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明涉及一种具有自动换样功能的人体鼻拭子α射线剂量快速检测仪，其特点在于自动换样和连续快速检测，属于辐射剂量防护技术领域。该检测仪主要有α射线探测系统、样品架、外壳、真空系统、伺服电机和计算机组成。位于外壳间的样品架等分为5个腔室，旋转样品架可使每个腔室先后到达进样、抽真空、检测、真空放气和出样5个位置。在进出样位置，配有支架的鼻拭子靠重力装入样品架的工字型卡槽或脱离卡槽进入鼻拭子收集盒。抽真空位置腔室通过三通接机械泵，三通另一端通过快速真空保护阀接检测位置腔室。真空密封通过样品架与外壳的密封接触来实现。α射线检测由计算机自动控制，并在一个样品检毕后，通过伺服电机旋转样品架来实现自动换样。
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公开(公告)号：CN116453731A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310441769.6
申请日：2023-04-23
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明涉及放射源研制技术领域，尤其涉及一种用于卫星平台的高可靠性宇航级放射源的研制方法。分为放射源的制备和放射源的检测两个过程，放射源的制备过程需要用到制备盒，制备盒由盒体底壳和盒体顶壳组成，盒体底壳上有活性槽，盒体顶壳底部有密封塞；放射源的检测过程需要用到检测设备，检测设备包括真空模拟腔、振动测试台，真空模拟腔内有支撑平台，支撑平台上有支撑架，支撑架上有固定夹具一，振动测试台包括测试平台，测试平台上有振动机，振动机上有固定夹具二。本发明的目的是为了解决现有技术中存在的技术问题，提出了一种用于卫星平台的高可靠性宇航级放射源的研制方法。
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公开(公告)号：CN112725755A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202110117303.1
申请日：2021-01-28
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明提供了一种柔性电子学基材及其制备方法和制备系统。制备方法包括：对基底进行预处理；对预处理过的基底表面进行离子注入第一金属；对第一金属离子注入的基底表面进行沉积第一金属；对第一金属沉积的基底表面进行沉积第二金属。制备系统包括：预处理装置，用于对基底进行预处理；离子注入装置，用于对预处理过的基底表面进行离子注入第一金属；第一沉积装置，用于对第一金属离子注入的基底表面进行沉积第一金属；第二沉积装置，用于对第一金属沉积的基底表面进行沉积第二金属。通过本发明的制备方法和系统，能够制备用于探测器微弱信号的电路传输的柔性电子学基材，低本底、耐低温、长尺寸、低成本。
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公开(公告)号：CN119247437A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411393517.1
申请日：2024-10-08
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明提供了稀土铒掺杂四硼酸锂薄膜的光释光剂量计及其制备方法，属于辐射剂量测定领域。本发明提供了一种制备稀土铒掺杂的四硼酸锂薄膜的溶胶‑凝胶制备方法，制备原料组成包括：碳酸锂、硼酸、稀土铒、单宁酸、四乙烯五胺，调节pH值通过原料的水解与聚合化学反应过程来获得四硼酸锂薄膜，利用旋涂机将凝胶均匀涂在硅及柔性基底上。本发明方法是一种低温湿化学法的制备技术，能耗低、成本低、且工序简单易于操作，便于大规模生产。通过本发明的制备方法，能够实现基于环境监测或医疗物理对人体剂量的光释光剂量计需求，高灵敏度、宽探测范围且抗褪色能力强。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110208302B
公开(公告)日：2021-03-23
申请号：CN201910605823.X
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种粒子激发X射线荧光分析深度分辨的装置及方法，其中装置包括：光阑、静电透镜、样品控制台、毛细管透镜和X射线探测器，离子束依次经过光阑、静电透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经离子束辐照激发出的X射线经毛细管透镜射入至X射线探测器。本发明结构简单，操作方便，能够实现样品不同深度处元素组成的PIXE测量分析。
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公开(公告)号：CN110208301A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910605406.5
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种深度分辨的X射线致辐射发光测量的装置及方法，其中装置包括：毛细管透镜、样品控制台、光学透镜和光谱仪，X射线经过毛细管透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经X射线致辐射激发产生的荧光经光学透镜射入至光谱仪。本发明结构简单，测量精度高，实现了X射线致辐射发光光谱测量中样品不同深度处光谱信息的采集。
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公开(公告)号：CN110320191A
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201910605492.X
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明公开了一种原位分析离子辐照损伤光学特征深度分布的装置及方法，其中装置包括：光阑、静电透镜、样品控制台、光学透镜和光谱仪，离子束依次经过光阑、静电透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经离子束辐照激发出的光经光学透镜射入至光谱仪。本发明避免了传统研究方案样品辐照后辐照损伤的恢复以及二次测量对辐照损伤的破坏，实现离子辐照损伤光学特征的深度分布的原位表征。
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公开(公告)号：CN110208305A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910605743.4
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/2254
Abstract: 本发明公开了一种阴极荧光测量深度分辨的装置及方法，其中装置包括：静电透镜、样品控制台、光学透镜和光谱仪，电子束经过静电透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经电子束辐照激发出的光经光学透镜射入至光谱仪。本发明结构简单，操作方便，能够实现样品不同深度的元素组成和晶格缺陷的准确光谱信息的探测分析。
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公开(公告)号：CN110208302A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910605823.X
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明公开了一种粒子激发X射线荧光分析深度分辨的装置及方法，其中装置包括：光阑、静电透镜、样品控制台、毛细管透镜和X射线探测器，离子束依次经过光阑、静电透镜后聚焦在设置于样品控制台上的样品表面，样品经离子束辐照激发出的X射线经毛细管透镜射入至X射线探测器。本发明结构简单，操作方便，能够实现样品不同深度处元素组成的PIXE测量分析。
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