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公开(公告)号：CN103278295B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201310161154.4
申请日：2013-05-03
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种多次压氦和预充氦压氦的氦质谱细检漏方法，给出了对已压氦或预充氦密封元器件压氦进行多次压氦法或预充氦压氦法氦质谱细检漏的程序，特别是给出了程序中的压氦时长、最长候检时长和测量漏率判据。本发明的有益效果为：与仍采用单次压氦法进行再次细检漏相比，本发明更为简捷精确，且可避免接近粗漏的大漏的漏检和细漏的错判；与先细漏检测、压氦再细漏检测的两次检测相比，不仅减少一次细漏检测，减少了测试偏差，而且可以利用压氦前被检件内部有所衰减的预充氦氦气压力或压氦压入的氦气压力，使检测更为灵敏；与多因素比较前一次细漏检测和压氦后二次细漏检测的候检时长和测量漏率的方法相比，更为简便可行。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103542988B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201310504713.7
申请日：2013-10-23
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，属于气密式密封元器件密封性检测领域，为解决现有可用检测技术仪器不能满足高精度检测要求的问题而设计。本发明以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，采用该方法的氦气含量法或氩气含量法对密封元器件进行内部气体质谱分析，判定被检测密封元器件的密封性是否合格。该方法包括步骤：1.判断采用氦气含量法或氩气含量法；2.设计；3.压氦或压氩；4.粗漏检测；5.内部气体质谱分析。本发明提高了密封性细漏检测的灵敏度和准确性，并避免粗漏大漏的漏检和细漏的错判，适用于鉴定检验、周期检验和认证检测等破坏性的检测。
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公开(公告)号：CN103411740B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201310303714.5
申请日：2013-07-18
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种积累氦质谱粗漏细漏组合检测元器件密封性的方法，给出了根据被检件的严密等级τHemin、内腔容积、表面吸附氦漏率以及检漏历史，选择相应压氦预充氦方式并选择固定或灵活方案，选择粗漏检测测量漏率判据的方法；定量设计细漏检测最长检测时间和测量漏率判据的方法；实施组合检测的程序，包括去除吸附氦，确定粗漏检测的开始取值时间和最长检测时间，确定开始细漏积累检测的时间，及补充检测更大粗漏的要求。本发明的有益效果为：既可以避免组合检测过程的粗漏漏检，又可以在大部分内腔容积范围增大最长候检时间，从而使吸附漏率的去除能满足细漏检测测量漏率判据要求，使积累氦质谱粗漏细漏组合检测更具适用性和可操作性。
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公开(公告)号：CN103542988A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201310504713.7
申请日：2013-10-23
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，属于气密式密封元器件密封性检测领域，为解决现有可用检测技术仪器不能满足高精度检测要求的问题而设计。本发明以内部气体质谱分析检测元器件密封性的方法，采用该方法的氦气含量法或氩气含量法对密封元器件进行内部气体质谱分析，判定被检测密封元器件的密封性是否合格。该方法包括步骤：1.判断采用氦气含量法或氩气含量法；2.设计；3.压氦或压氩；4.粗漏检测；5.内部气体质谱分析。本发明提高了密封性细漏检测的灵敏度和准确性，并避免粗漏大漏的漏检和细漏的错判，适用于鉴定检验、周期检验和认证检测等破坏性的检测。
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公开(公告)号：CN103411740A
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201310303714.5
申请日：2013-07-18
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种积累氦质谱粗漏细漏组合检测元器件密封性的方法，给出了根据被检件的严密等级τHemin、内腔容积、表面吸附氦漏率以及检漏历史，选择相应压氦预充氦方式并选择固定或灵活方案，选择粗漏检测测量漏率判据的方法；定量设计细漏检测最长检测时间和测量漏率判据的方法；实施组合检测的程序，包括去除吸附氦，确定粗漏检测的开始取值时间和最长检测时间，确定开始细漏积累检测的时间，及补充检测更大粗漏的要求。本发明的有益效果为：既可以避免组合检测过程的粗漏漏检，又可以在大部分内腔容积范围增大最长候检时间，从而使吸附漏率的去除能满足细漏检测测量漏率判据要求，使积累氦质谱粗漏细漏组合检测更具适用性和可操作性。
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公开(公告)号：CN103278295A
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201310161154.4
申请日：2013-05-03
Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明公开了一种多次压氦和预充氦压氦的氦质谱细检漏方法，给出了对已压氦或预充氦密封元器件压氦进行多次压氦法或预充氦压氦法氦质谱细检漏的程序，特别是给出了程序中的压氦时长、最长候检时长和测量漏率判据。本发明的有益效果为：与仍采用单次压氦法进行再次细检漏相比，本发明更为简捷精确，且可避免接近粗漏的大漏的漏检和细漏的错判；与先细漏检测、压氦再细漏检测的两次检测相比，不仅减少一次细漏检测，减少了测试偏差，而且可以利用压氦前被检件内部有所衰减的预充氦氦气压力或压氦压入的氦气压力，使检测更为灵敏；与多因素比较前一次细漏检测和压氦后二次细漏检测的候检时长和测量漏率的方法相比，更为简便可行。
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