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发明公开
一种产品反光表面缺陷检测方法及系统无效

公开(公告)号：CN112782179A

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN202011536436.4

申请日：2020-12-22

Applicant: 北京市新技术应用研究所

Inventor： 刘磊 , 岳峰 , 李彬

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明提供一种产品反光表面缺陷检测方法，包括：获取待检测产品反光表面条纹图像及白色反光图像；获取待检测产品的感兴趣区域；获取感兴趣区域的基准点；条纹图像形态学滤波处理；图像二值化处理；基于模板图像的图像边缘形态学处理；缺陷检测。本发明还提供一种产品反光表面缺陷检测系统，包括：显示器、工业相机、图像处理设备、机械传动设备、产品固定夹具。本发明充分考虑产品表面图像检测面积和检测点数量各异、待检测区域反光且带有弧度等情况，利用白色反光图像信息分别获得待检测图像ROI的轮廓及轮廓内图像以及ROI的基准点，获取去除条纹干扰且缺陷能够很好保留的图像，实现待检测产品反光面中每个ROI缺陷的快速、精确、稳定的检测。

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