公开(公告)号：CN111444096A

公开(公告)日：2020-07-24

申请号：CN202010217493.X

申请日：2020-03-25

Applicant: 北京市信息技术研究所

Inventor： 孙佩刚 ,  高传平 ,  刘海涛 ,  刘红雨 ,  周旋

IPC: G06F11/36

Abstract: 本申请提供了一种接口测试用例生成方法及装置，该方案针对不同的参数输入域采用不同的组合策略，针对正常测试数据采用正交阵列法生成两两覆盖的正常测试用例集，从而实现使用较少的资源极大限度地验证待测试接口的正常。针对异常测试数据采用基本选择法生成单覆盖的异常测试用例集，既能确定异常来源又能避免测试用例数目激增。该方案在取得良好测试覆盖的同时，大幅降低了测试开销，有效提升了接口测试效率。

公开(公告)号：CN111444096B

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202010217493.X

申请日：2020-03-25

Applicant: 北京市信息技术研究所

Inventor： 孙佩刚 ,  高传平 ,  刘海涛 ,  刘红雨 ,  周旋

IPC: G06F11/36

Abstract: 本申请提供了一种接口测试用例生成方法及装置，该方案针对不同的参数输入域采用不同的组合策略，针对正常测试数据采用正交阵列法生成两两覆盖的正常测试用例集，从而实现使用较少的资源极大限度地验证待测试接口的正常。针对异常测试数据采用基本选择法生成单覆盖的异常测试用例集，既能确定异常来源又能避免测试用例数目激增。该方案在取得良好测试覆盖的同时，大幅降低了测试开销，有效提升了接口测试效率。