-
公开(公告)号：CN103792070A
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201410028497.8
申请日：2014-01-21
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该发明包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于所述反射棱镜A和所述反射棱镜B后方。本发明对半导体激光阵列中巴条的光学特性参数进行高精度和自动化检测，并对其质量进行了有效控制，降低了成本。
-
公开(公告)号：CN103792070B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201410028497.8
申请日：2014-01-21
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该发明包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于所述反射棱镜A和所述反射棱镜B后方。本发明对半导体激光阵列中巴条的光学特性参数进行高精度和自动化检测，并对其质量进行了有效控制，降低了成本。
-
公开(公告)号：CN203672595U
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201420037983.1
申请日：2014-01-21
Applicant: 北京工业大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本实用新型提供一种半导体激光阵列光学特性检测装置，涉及一种激光技术领域。该实用新型包括半导体激光阵列、检测装置、电控平移台与计算机，其中，检测装置包括吸收模块A、吸收模块B、反射棱镜A、反射棱镜B与平面反射镜，吸收模块A和吸收模块B分别设置在检测装置的上部与下部，反射棱镜A的底部固定在吸收模块A的下方且其尖端向下倾斜，反射棱镜B的底部固定在吸收模块B的上方且其尖端向上倾斜，反射棱镜A的尖端和反射棱镜B的尖端相靠近形成一间隙，平面反射镜固定在间隙的中轴线处并且位于反射棱镜A和反射棱镜B后方。本实用新型对半导体激光阵列中巴条的光学特性进行高精度和自动化检测，并对其质量进行有效地控制，降低了成本。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.022 seconds)
