公开(公告)号：CN108170923A

公开(公告)日：2018-06-15

申请号：CN201711395463.2

申请日：2017-12-21

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 王晓懿 ,  王泓宇 ,  闫岩 ,  张恩硕

IPC: G06F17/50 ,  G06F17/13

Abstract: 本发明公开一种基于特征函数的片上金属互连线网电迁移可靠性分析方法，该算法通过将芯片中互连线网划分为同层金属组成互连树，提取互连树上的参数，将互连树作为电迁移分析的基本单元，并使用Korhonen方程对互连树上的电迁移进行模型。采用基于特征函数的方法对互连树上的Korhonen方程进行准确、高效地求解。在求解得到瞬态应力的基础上，采用二分法求解电迁移失效时间。

公开(公告)号：CN107153750A

公开(公告)日：2017-09-12

申请号：CN201710439192.X

申请日：2017-06-12

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 王晓懿 ,  闫岩 ,  王泓宇

IPC: G06F17/50

CPC classification number: G06F17/5081

Abstract: 本发明公开一种基于物理模型的片上供电网络电迁移可靠性分析方法，通过供电网络的SPICE网表解析器导入并构建供电网络结构，并提取出供电网络上供电线的参数。结合工艺参数，建立供电网络电迁移的物理模型。采用基于积分变换的方法求解供电网络互连线上瞬态应力，从而准确地确定供电网络上空洞成核的时间和位置，最后通过将供电网络建模为时变电阻网络，并通过进行静态电压分析，将供电网络上最大电压降超过阈值作为供电网络失效的评判标准，来得到供电网络电迁移失效时间。