一种薄片材料复磁导率测量方法和装置

    公开(公告)号:CN109884565A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910236333.7

    申请日:2019-03-27

    Abstract: 本发明实施例提供一种薄片材料复磁导率测量方法和装置,该方法包括:将微带线的接地板和导带间的介质层内依次设有第一空气区域、待测样品放置区和第二空气区域,在所述待测样品放置区填充待测薄膜材料;基于传输反射法获取微带线二端口的特征阻抗和传播常数,并基于材料电磁参数与所述特征阻抗和传播常数的关系获取微带线二端口相对介电常数,基于所述相对介电常数获取所述待测薄膜材料的复磁导率。基于宽频测试过程中测量加入样品后的S参数,利用传输反射法求出填充待测薄膜材料后微带线的特征阻抗,根据电磁参数与特征阻抗关系求解出微带线二端口相对介电常数,再求解出测试频段范围下的复磁导率,具有测试频带宽,重复性强、结构简单等特点。

    高温宽频下微波材料的复介电常数计算方法

    公开(公告)号:CN109581069B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201811523105.X

    申请日:2018-12-13

    Abstract: 本发明实施例提供一种高温宽频下微波材料的复介电常数计算方法,包括:S1,获取在试验温度和试验频率范围下的微波测试数据,并基于微波测试数据和覆有隔热垫层结构的微带线二端口网络,利用正向传输反射法,计算覆有隔热垫层结构的微带线的正向二端口阻抗;S2,利用变分求电容法,求取被待测微波材料覆盖时,覆有隔热垫层结构的微带线的逆向二端口阻抗;S3,基于覆有隔热垫层结构的微带线的正向二端口阻抗与逆向二端口阻抗间的等价关系,求解待测微波材料在试验温度和试验频率范围下的复介电常数。本发明实施例能够准确计算高温、宽频状态下微波材料的复介电常数,为高温宽频微波材料的应用提供较可靠的数据支持。

    高温宽频下微波材料的复介电常数计算方法

    公开(公告)号:CN109581069A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811523105.X

    申请日:2018-12-13

    Abstract: 本发明实施例提供一种高温宽频下微波材料的复介电常数计算方法,包括:S1,获取在试验温度和试验频率范围下的微波测试数据,并基于微波测试数据和覆有隔热垫层结构的微带线二端口网络,利用正向传输反射法,计算覆有隔热垫层结构的微带线的正向二端口阻抗;S2,利用变分求电容法,求取被待测微波材料覆盖时,覆有隔热垫层结构的微带线的逆向二端口阻抗;S3,基于覆有隔热垫层结构的微带线的正向二端口阻抗与逆向二端口阻抗间的等价关系,求解待测微波材料在试验温度和试验频率范围下的复介电常数。本发明实施例能够准确计算高温、宽频状态下微波材料的复介电常数,为高温宽频微波材料的应用提供较可靠的数据支持。

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