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发明公开
一种基于协方差矩阵的片上S参数测量不确定度评定方法审中-实审

公开(公告)号：CN119291585A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411098613.3

申请日：2024-08-12

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 朱江淼 , 王逸凡 , 付朝鲜 , 满恺鸽 , 王伊迪

IPC: G01R35/00 , G06F17/16

Abstract: 本发明涉及一种基于协方差矩阵的片上S参数测量不确定度评定方法，该方法包括：构建校准件不确定度协方差矩阵；基于SOLT校准得到的前向误差模型和后向误差模型与校准件真值的函数关系得到SOLT校准误差模型对校准件的灵敏度系数；基于灵敏度系数构建雅可比矩阵，将不确定度从校准件不确定度协方差矩阵传递至误差模型系数；根据S参数与误差模型系数的函数关系构建雅可比矩阵，将不确定度从误差模型系数传递至S参数；将S参数的不确定度传递至幅度与相位，得到S参数幅度与相位信息的协方差矩阵作为B类不确定度；根据A类不确定度和B类不确定度计算合成不确定度。其有益效果是，提升了不确定度评定结果的准确度。

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