公开(公告)号：CN110289859A

公开(公告)日：2019-09-27

申请号：CN201910529921.X

申请日：2019-06-19

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 谢雪松 ,  朱文举 ,  张小玲 ,  刘晟豪

IPC: H03M1/12

Abstract: 基于多片ADC的并行时间交替高速采样系统属于通信领域，包括信号调理模块、信号采集模块、时钟产生与分配模块、逻辑控制模块、数据存储模块、接口模块、电源模块。模拟输入信号进入信号调理模块后，当模数转换器(ADC)收到时钟信号后对调理过的模拟信号进行采集，再将转换后的数字信号输入逻辑控制模块进行数据的处理，数据存储模块实现数据存储，最后通过接口模块可把数据上传给计算机。信号调理模块中主要由差分放大器实现对模拟信号的调理，包括模拟信号的滤波和放大，单端信号转差分信号。信号采集模块由同一型号的四片ADC构成，在收到时钟信号后通过并行时间交替采样从而实现采样系统较高的采样率和较高的分辨率。

公开(公告)号：CN110221190B

公开(公告)日：2021-11-26

申请号：CN201910489548.X

申请日：2019-06-06

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 谢雪松 ,  刘晟豪 ,  张小玲 ,  朱文举

IPC: G01R31/26

Abstract: 功率半导体器件安全工作区精确测量方法涉及半导体器件安全工作区的测量。本发明通过一定的控制方法，使器件在不同的热、电条件下处于稳定状态，利用激光诱导的方式引入热斑，通过观察激光撤掉后的电学参数变化，找到临界点，在热斑即将产生时刻保护被测器件不至于毁损，并记录此时刻的电流、电压、温度数据，此即为安全工作区曲线上的一点，通过改变外部条件，可以逐点描绘出器件产生“热斑”的条件轨迹，此曲线即为安全工作区曲线。

公开(公告)号：CN110221190A

公开(公告)日：2019-09-10

申请号：CN201910489548.X

申请日：2019-06-06

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 谢雪松 ,  刘晟豪 ,  张小玲 ,  朱文举

IPC: G01R31/26

Abstract: 功率半导体器件安全工作区精确测量方法涉及半导体器件安全工作区的测量。本发明通过一定的控制方法，使器件在不同的热、电条件下处于稳定状态，利用激光诱导的方式引入热斑，通过观察激光撤掉后的电学参数变化，找到临界点，在热斑即将产生时刻保护被测器件不至于毁损，并记录此时刻的电流、电压、温度数据，此即为安全工作区曲线上的一点，通过改变外部条件，可以逐点描绘出器件产生“热斑”的条件轨迹，此曲线即为安全工作区曲线。