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公开(公告)号:CN105192995A
公开(公告)日:2015-12-30
申请号:CN201510615813.6
申请日:2015-09-24
Applicant: 北京工业大学
Abstract: 具有无线充电功能的可监测心率并调控温度的智能鞋垫,该智能鞋垫包括鞋垫本体和集成芯片;其中,集成芯片设置在鞋垫本体内,集成芯片内部包括温度传感器模块、生理参数感应类传感器模块、无线通信模块、MCU模块以及电源产生模块,集成芯片外部设有天线进行无线充电;温度传感器模块对足底温度进行监测;感应类传感器模块可以实时的监测心率变化;MCU模块是芯片的核心,中央处理器用于处理各种数据;电源产生模块把信号能量转换为稳定的直流电压来提供电源。通过MCU模块中指令寄存器反馈的指令进行加热操作,以及智能鞋垫后端的线圈天线可以接收智能终端产生的无线信号。通过这些模块的配合,从而实现整个智能鞋垫的功能。
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公开(公告)号:CN105138440B
公开(公告)日:2017-09-12
申请号:CN201510615935.5
申请日:2015-09-24
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种自带对比功能的标准单元库功能测试方法,输入向量选择扩展模块,用于接收或生成初始向量,并对初始向量进行选择扩展;标准单元模块,分类存储标准单元库中所有单元;对照单元模块,分类存储所有标准单元理想模型;地址选择模块,用于生成测试地址,并对其他模块起到控制作用;输出向量选择模块1、2,分别用于接收标准单元与理想单元模型输出结果;对比判断模块,用于对比理想与实际输出结果。本发明利用向量复用对多个标准单元并行测试,减少了冗余向量,提高了测试速率。在测试出标准单元功能的同时,利用理想模型直接对比测试结果,判断每一个单元是否符合要求,减少了测试人员的工作量。
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公开(公告)号:CN105718702B
公开(公告)日:2019-02-01
申请号:CN201610131658.5
申请日:2016-03-08
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种Def库与3D集成电路bookshelf库转换的方法,其用于将电路版图进行分区域处理,然后作为单层电路记性堆叠操作;线网提取与展平模块把跨层与通层线网分类并作插入变量处理,并生成.nets文件;标准单元坐标的提取模块,将标准单元坐标文件.place里所有单元坐标信息提取并生成.pl文件;标准单元尺寸提取模块将.lef文件里所有单元名称,尺寸信息,端口信息以及.v里例化后的标准单元名称提取,并生成.nodes文件;TSV插入模块,用于把电路图跨层的线网转换为TSV,并插入电路版图中。本发明将单层集成电路Def库转换为3D集成电路bookshelf库,从而能使开发者在拥有单层EDA工具的条件下,进行3D集成电路的测试与开发。
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公开(公告)号:CN105718702A
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201610131658.5
申请日:2016-03-08
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5072 , G06F17/5068
Abstract: 本发明公开了一种Def库与3D集成电路bookshelf库转换的方法,其用于将电路版图进行分区域处理,然后作为单层电路记性堆叠操作;线网提取与展平模块把跨层与通层线网分类并作插入变量处理,并生成.nets文件;标准单元坐标的提取模块,将标准单元坐标文件.place里所有单元坐标信息提取并生成.pl文件;标准单元尺寸提取模块将.lef文件里所有单元名称,尺寸信息,端口信息以及.v里例化后的标准单元名称提取,并生成.nodes文件;TSV插入模块,用于把电路图跨层的线网转换为TSV,并插入电路版图中。本发明将单层集成电路Def库转换为3D集成电路bookshelf库,从而能使开发者在拥有单层EDA工具的条件下,进行3D集成电路的测试与开发。
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公开(公告)号:CN105138440A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201510615935.5
申请日:2015-09-24
Applicant: 北京工业大学
IPC: G06F11/263
Abstract: 本发明涉及一种自带对比功能的标准单元库功能测试方法,输入向量选择扩展模块,用于接收或生成初始向量,并对初始向量进行选择扩展;标准单元模块,分类存储标准单元库中所有单元;对照单元模块,分类存储所有标准单元理想模型;地址选择模块,用于生成测试地址,并对其他模块起到控制作用;输出向量选择模块1、2,分别用于接收标准单元与理想单元模型输出结果;对比判断模块,用于对比理想与实际输出结果。本发明利用向量复用对多个标准单元并行测试,减少了冗余向量,提高了测试速率。在测试出标准单元功能的同时,利用理想模型直接对比测试结果,判断每一个单元是否符合要求,减少了测试人员的工作量。
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