公开(公告)号：CN116678743A

公开(公告)日：2023-09-01

申请号：CN202310675436.X

申请日：2023-06-07

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 王立华 ,  李超杰 ,  徐建勋 ,  韩晓东 ,  赵宇亮

IPC: G01N3/08 ,  G01N3/02 ,  G01N3/06 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20025

Abstract: 本发明公开了一种在透射电子显微镜中，为纳米金属样品提供原子级原位等静压力学性能测试的装置及方法。本发明属于纳米材料显微结构原位测试及表征技术领域。本发明创新性地设计了一种新的等静压容器装置：采用微操作技术将纳米金属样品加载并封装在两个碳纳米锥中间，即可获得一种等静压容器。更重要的是，该设计还创新性地实现了金属样品在透射电子显微镜中的原位等静压力学性能测试：通过探针挤压碳纳米锥的侧壁，对等静压环境中的金属样品施加等静压力，从而实现金属样品在透射电子显微镜中的原位等静压力学性能测试，静压大小可控。