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发明公开
一种高空间分辨率的磁巴克豪森噪声MBN传感器及测量方法审中-实审

公开(公告)号：CN119714032A

公开(公告)日：2025-03-28

申请号：CN202411885743.1

申请日：2024-12-19

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘秀成 , 强志鹏 , 李鹏 , 吴斌

IPC: G01B7/00 , G01B7/30

Abstract: 本发明公开了一种高空间分辨率的磁巴克豪森噪声MBN传感器及测量方法，属于微磁无损检测技术领域；采用磁巴克豪森噪声MBN无损检测方法，规避对材料表面进行打磨抛光、以及酸洗等有损操作，实现了材料晶界位置和晶界倾斜角度的测量。首先通过创新的马蹄形磁轭设计，通过优化磁轭结构并精确加工其尖端气隙，实现高空间分辨率MBN传感器制备。接着利用铁磁性材料晶界位置与晶粒内部磁信号的不同，通过平面扫描和特征值提取，能够精确区分晶粒内部与晶界区域，实现晶界位置的定位。同时，引入磁场旋转方法，通过对比分析不同磁场方向下的MBN信号，精确测量晶界的倾斜角度。该装置及方法有效提高铁磁性材料晶界等微观结构的测量效率。

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