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发明公开
基于粗校准系统针对ODT数据的图像配准方法、装置及设备审中-实审

公开(公告)号：CN119991423A

公开(公告)日：2025-05-13

申请号：CN202411792089.X

申请日：2024-12-06

Applicant: 北京大学长三角光电科学研究院

Inventor： 白复兴 , 陈飞 , 杨燕青 , 汪波 , 施可彬

IPC: G06T3/147 , G06T7/33

Abstract: 本发明提供一种基于粗校准系统针对ODT数据的图像配准方法、装置及设备，方法包括：从三维折射率数据中提取与宽场荧光图像匹配的单层二维数据；对单层二维数据和宽场荧光图像进行特征点提取，得到ODT特征点点集和宽场荧光特征点点集；基于聚类算法改进的适应性迭代算法，对ODT特征点点集和宽场荧光特征点点集进行匹配并迭代生成仿射变换矩阵；将仿射变换矩阵作为初始解，构建差分优化器，将仿射变换矩阵输入至差分优化器中进行优化，得到透视变换矩阵；基于透视变换矩阵，确定图像配准结果。专门针对ODT三维折射率数据与多通道宽场荧光数据实现图像配准，进而实现同一样本同一时刻下无标记非特异性成像和特异性成像方式的图像融合。

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