一种精密检测光学器件稳定性的装置及方法

    公开(公告)号:CN118654861A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410916642.X

    申请日:2024-07-09

    Abstract: 本发明提供一种光学器件稳定性的精密检测装置,其包括激光器和分束器,所述分束器将激光器的出射光分为第一路激光和第二路激光,在第一路激光光路上设置第一功率探测器,在第二路激光光路上设置第二功率探测器,所述精密探测装置还包括除法器,第一功率探测器和第二功率探测器的输出作为除法器的输入,除法器的输出端接高精度数字万用表。本发明通过同一套装置可快速实现对分束器(包括大比例分束器)、衰减器和放大器的稳定性测试,该装置结构简单,易于操作和实现,具有良好的适用性,可应用光学产品质检和光学实验中,以满足提升产品质量、确保系统性能,降低维修成本和增强用户满意度等需求。

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