上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113487667A

    公开(公告)日:2021-10-08

    申请号:CN202110618467.2

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质,其中,上颌腭部测量方法包括:构建数字化牙科模型,对数字化牙科模型中的牙齿定点,以得到多个结点;标记双侧腭小凹前缘连线中点,以得到起始结点;根据多个结点和起始结点,构建首尾相连的腭部边缘最短路径;根据矢状平面将腭部边缘最短路径分为第一路径和第二路径;将第一路径上的结点投影至第二路径,以得到第一结点集,将第二路径上的点投影至第一路径,以得到第二结点集;根据第一结点集和第二结点集的结点构建容积测量体并计算,以得到腭部容积。本发明的上颌腭部容积测量方法,能够提高腭部容积测量的准确性和可重复性。

    上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113487667B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202110618467.2

    申请日:2021-06-03

    Abstract: 本发明公开了一种上颌腭部容积测量方法、测量系统、电子设备及存储介质,其中,上颌腭部测量方法包括:构建数字化牙科模型,对数字化牙科模型中的牙齿定点,以得到多个结点;标记双侧腭小凹前缘连线中点,以得到起始结点;根据多个结点和起始结点,构建首尾相连的腭部边缘最短路径;根据矢状平面将腭部边缘最短路径分为第一路径和第二路径;将第一路径上的结点投影至第二路径,以得到第一结点集,将第二路径上的点投影至第一路径,以得到第二结点集;根据第一结点集和第二结点集的结点构建容积测量体并计算,以得到腭部容积。本发明的上颌腭部容积测量方法,能够提高腭部容积测量的准确性和可重复性。

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