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公开(公告)号：CN102081050B
公开(公告)日：2015-02-18
申请号：CN200910249814.8
申请日：2009-11-27
Applicant: 北京大学口腔医学院
Abstract: 本发明涉及一种牙科金属修复体评价用像质计。尤其适用于具有精确的金属板厚度，可以直接在X射线照相底片上反映被测对象厚度的、用于评价牙科金属修复体厚度和内部质量的像质计。借助牙科像质计不仅可以通过不同阶梯灰度的圆孔反应出X射线照相底片的灵敏度，同时，可以通过像质计不同阶梯灰度的圆孔处的光密度与牙科金属修复体上缺陷处的光密度进行比较，根据像质计上光密度与像质计底板厚度的对应关系，得出缺陷处的厚度。牙科像质计的最重要特点是，在X射线照相底片上，像质计和牙科金属修复体在相同颜色的基底背景下进行比较，可以避免由于背景颜色不同，造成的观测误差。
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公开(公告)号：CN217156356U
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202220950217.9
申请日：2022-04-22
Applicant: 北京大学口腔医学院
Abstract: 本实用新型提供了一种多信息牙科金属修复体内部质量评价用像质计，涉及X射线照相技术领域，通过在像质计的侧面增加显示下部金属薄片厚度尺寸的数字和下部金属薄片材质的材质数字板，使获得的X光片中，可以显示出各厚度标识点的厚度数值和所用像质计下部金属薄片的材质，由此，不但可以准确地读取标记点的厚度值，而且可以随时确认所用像质计与义齿材质的一致性，从而有效地避免因错用其他材质的像质计而导致的义齿咬合面厚度误判，缓解了现有技术中存在的像质计不利于准确依据X光片判定义齿咬合面的最小厚度及内部质量，也无法发现因使用的像质计材质与义齿材质不同，而造成的义齿内部质量误判的技术问题。
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