公开(公告)号：CN117949265A

公开(公告)日：2024-04-30

申请号：CN202311816433.X

申请日：2023-12-26

Applicant: 北京大学

Inventor： 王梓毅 ,  董琳 ,  张昌虎 ,  马元稹 ,  付金华 ,  刘显阳 ,  金之钧

IPC: G01N1/28 ,  G01N1/32 ,  G01N1/36 ,  G01N15/08 ,  G01N33/00

Abstract: 本发明涉及样品制备领域，本发明提供一种合金包埋页岩样品靶制备方法，该方法包括：对无偏取样得到的颗粒状页岩样品进行全岩分析测试，所述全岩分析测试包括有损分析测试和无损分析测试；对无偏取样得到的颗粒状页岩样品或所述无损分析测试后的颗粒状页岩样品进行合金包埋；对包埋后的合金和颗粒状页岩样品进行抛光，得到页岩样品靶。本发明通过将无偏取样或无损分析测试后的颗粒状页岩样品包埋于低熔点合金中，并制成页岩样品靶来进行显微观测。通过本方法得到的页岩样品靶具有高导电性，可以在不镀导电膜的情况下实现电子显微镜的大倍数高质量成像，显微观测结果可以满足与其它全岩分析测试结果进行对比研究的要求。