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公开(公告)号：CN102621094A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210058539.3
申请日：2012-03-07
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括：样品腔；在样品腔的上表面安装制冷系统；在样品腔的下表面安装加热系统；以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间，通过胶圈密封，内部通有样品液体，形成样品腔，并通过冷水机的温度设置控制冷却板的温度，以及温控电路控制加热板的加热功率，样品腔的上表面和下表面能够较快地获得不同的温差，形成热对流，以及利用阴影法来观察样品腔内的斑图。此种设计，能够精确地控制样品腔的上和下表面的温度，并且样品腔内无气泡。本发明的测试仪，直观、简单、易于操作。
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公开(公告)号：CN101504439B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200910080023.7
申请日：2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号，收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据，以及获得温差电动势数据；计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制，并根据数据采集系统的数据信息，计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN101504439A
公开(公告)日：2009-08-12
申请号：CN200910080023.7
申请日：2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号，收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据，以及获得温差电动势数据；计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制，并根据数据采集系统的数据信息，计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数，提高了测量效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102937600B
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201210439813.1
申请日：2012-11-06
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描，直接生成影像的数码信息。本发明采用IP成像板，曝光时间短，从而提高了透射电镜的灵敏度，操作快捷，图像对比度高；存储在IP成像板内的影像保持7天以上；IP成像板可在正常的可见光环境中操作，使用方便；IP成像板中的信息可选择性的重复读取，已曝光的IP成像板经消光后，可以重复利用近两万次。因此，本发明在可方便地观察图像的细节的同时，消除资源浪费和环境污染，提高测量精度。
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公开(公告)号：CN102937600A
公开(公告)日：2013-02-20
申请号：CN201210439813.1
申请日：2012-11-06
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描，直接生成影像的数码信息。本发明采用IP成像板，曝光时间短，从而提高了透射电镜的灵敏度，操作快捷，图像对比度高；存储在IP成像板内的影像保持7天以上；IP成像板可在正常的可见光环境中操作，使用方便；IP成像板中的信息可选择性的重复读取，已曝光的IP成像板经消光后，可以重复利用近两万次。因此，本发明在可方便地观察图像的细节的同时，消除资源浪费和环境污染，提高测量精度。
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公开(公告)号：CN102621094B
公开(公告)日：2013-11-27
申请号：CN201210058539.3
申请日：2012-03-07
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括：样品腔；在样品腔的上表面安装制冷系统；在样品腔的下表面安装加热系统；以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间，通过胶圈密封，内部通有样品液体，形成样品腔，并通过冷水机的温度设置控制冷却板的温度，以及温控电路控制加热板的加热功率，样品腔的上表面和下表面能够较快地获得不同的温差，形成热对流，以及利用阴影法来观察样品腔内的斑图。此种设计，能够精确地控制样品腔的上和下表面的温度，并且样品腔内无气泡。本发明的测试仪，直观、简单、易于操作。
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公开(公告)号：CN201425615Y
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200920106228.3
申请日：2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪，属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统，变温系统用于改变肖特基二极管的温度，测得温差电动势信号；数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号，收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据，以及获得温差电动势数据；计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制，并根据数据采集系统的数据信息，计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本实用新型可直接获得肖特基二极管的特性参数，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN202871739U
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201220580560.5
申请日：2012-11-06
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统。本实用新型的透射电镜成像及扫描系统包括：透射电镜及扫描装置；其中，透射电镜中采用IP成像板，透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像；扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描，直接生成影像的数码信息。本实用新型采用IP成像板，形成影像的曝光时间短，从而提高了透射电镜的灵敏度，并且操作快捷，图像对比度高；存储在IP成像板内的影像可以保持7天以上；IP成像板可在正常的可见光环境中操作；IP成像板中的信息可选择性的重复读取或消光，能够重复利用近两万次。因此，本实用新型在可方便地观察图像的细节的同时，消除资源浪费和环境污染，提高测量精度。
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