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公开(公告)号:CN102621094A
公开(公告)日:2012-08-01
申请号:CN201210058539.3
申请日:2012-03-07
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括:样品腔;在样品腔的上表面安装制冷系统;在样品腔的下表面安装加热系统;以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间,通过胶圈密封,内部通有样品液体,形成样品腔,并通过冷水机的温度设置控制冷却板的温度,以及温控电路控制加热板的加热功率,样品腔的上表面和下表面能够较快地获得不同的温差,形成热对流,以及利用阴影法来观察样品腔内的斑图。此种设计,能够精确地控制样品腔的上和下表面的温度,并且样品腔内无气泡。本发明的测试仪,直观、简单、易于操作。
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公开(公告)号:CN101504439B
公开(公告)日:2011-02-16
申请号:CN200910080023.7
申请日:2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。
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公开(公告)号:CN101504439A
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:CN200910080023.7
申请日:2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本发明可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。
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公开(公告)号:CN102937600B
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201210439813.1
申请日:2012-11-06
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括:透射电镜及扫描装置;其中,透射电镜中采用IP成像板,透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像;扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描,直接生成影像的数码信息。本发明采用IP成像板,曝光时间短,从而提高了透射电镜的灵敏度,操作快捷,图像对比度高;存储在IP成像板内的影像保持7天以上;IP成像板可在正常的可见光环境中操作,使用方便;IP成像板中的信息可选择性的重复读取,已曝光的IP成像板经消光后,可以重复利用近两万次。因此,本发明在可方便地观察图像的细节的同时,消除资源浪费和环境污染,提高测量精度。
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公开(公告)号:CN102937600A
公开(公告)日:2013-02-20
申请号:CN201210439813.1
申请日:2012-11-06
Applicant: 北京大学
IPC: G01N23/22
Abstract: 本发明公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像扫描系统及其控制方法。本发明的透射电镜成像扫描系统包括:透射电镜及扫描装置;其中,透射电镜中采用IP成像板,透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像;扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描,直接生成影像的数码信息。本发明采用IP成像板,曝光时间短,从而提高了透射电镜的灵敏度,操作快捷,图像对比度高;存储在IP成像板内的影像保持7天以上;IP成像板可在正常的可见光环境中操作,使用方便;IP成像板中的信息可选择性的重复读取,已曝光的IP成像板经消光后,可以重复利用近两万次。因此,本发明在可方便地观察图像的细节的同时,消除资源浪费和环境污染,提高测量精度。
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公开(公告)号:CN102621094B
公开(公告)日:2013-11-27
申请号:CN201210058539.3
申请日:2012-03-07
Applicant: 北京大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种热对流斑图测试仪及其测量方法。本发明的测试仪包括:样品腔;在样品腔的上表面安装制冷系统;在样品腔的下表面安装加热系统;以及用来观测热对流斑图的光学观测系统。本发明在冷却板和加热板之间,通过胶圈密封,内部通有样品液体,形成样品腔,并通过冷水机的温度设置控制冷却板的温度,以及温控电路控制加热板的加热功率,样品腔的上表面和下表面能够较快地获得不同的温差,形成热对流,以及利用阴影法来观察样品腔内的斑图。此种设计,能够精确地控制样品腔的上和下表面的温度,并且样品腔内无气泡。本发明的测试仪,直观、简单、易于操作。
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公开(公告)号:CN201425615Y
公开(公告)日:2010-03-17
申请号:CN200920106228.3
申请日:2009-03-17
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型提供了一种变温肖特基二极管特性测试仪,属于肖特基二极管测试技术领域。该测试仪包括一变温系统、一数据采集系统和一计算机控制系统,变温系统用于改变肖特基二极管的温度,测得温差电动势信号;数据采集系统用于对肖特基二极管样品的两端施加电压信号,收集肖特基二极管两端的电压数据和流过肖特基二极管的电流数据,以及获得温差电动势数据;计算机控制系统用于对数据采集系统进行控制,并根据数据采集系统的数据信息,计算出肖特基二极管的势垒高度qφb、有效理查德常数A**、理想因子n和串联电阻R。本实用新型可直接获得肖特基二极管的特性参数,提高了测量效率。
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公开(公告)号:CN202871739U
公开(公告)日:2013-04-10
申请号:CN201220580560.5
申请日:2012-11-06
Applicant: 北京大学
Abstract: 本实用新型公开了一种基于IP成像板的透射电镜成像及扫描系统。本实用新型的透射电镜成像及扫描系统包括:透射电镜及扫描装置;其中,透射电镜中采用IP成像板,透过样品后的电子束曝光在IP成像板上形成影像;扫描装置对已曝光的IP成像板进行影像扫描,直接生成影像的数码信息。本实用新型采用IP成像板,形成影像的曝光时间短,从而提高了透射电镜的灵敏度,并且操作快捷,图像对比度高;存储在IP成像板内的影像可以保持7天以上;IP成像板可在正常的可见光环境中操作;IP成像板中的信息可选择性的重复读取或消光,能够重复利用近两万次。因此,本实用新型在可方便地观察图像的细节的同时,消除资源浪费和环境污染,提高测量精度。
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