一种加速器质谱装置及加速器质谱14C测量方法

    公开(公告)号:CN100561221C

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200510086258.9

    申请日:2005-08-19

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供了一种基于低能散RFQ加速器的加速器质谱装置及相应的加速器质谱14C测量方法,属于加速器质谱技术领域。该加速器质谱装置包括:离子源、聚束器、RFQ加速器、电子剥离器、高能分析系统以及探测器,上述部件按顺序联接,RFQ加速器分别将14C、12C、13C离子加速到一定能量以进行电子剥离,可消除分子离子干扰。本发明用低能散的RFQ加速结构作为14C测量加速器质谱(AMS)系统中的离子加速装置,通过交替改变馈入RFQ加速器的射频功率实现14C、12C、13C三种离子的交替加速。不需要传统AMS中的钢筒、绝缘气体、交替注入系统等,整体结构简化。

    一种加速器质谱装置及加速器质谱14C测量方法

    公开(公告)号:CN1916622A

    公开(公告)日:2007-02-21

    申请号:CN200510086258.9

    申请日:2005-08-19

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供了一种基于低能散RFQ加速器的加速器质谱装置及相应的加速器质谱14C测量方法,属于加速器质谱技术领域。该加速器质谱装置包括:离子源、聚束器、RFQ加速器、电子剥离器、高能分析系统以及探测器,上述部件按顺序联接,RFQ加速器分别将14C、12C、13C离子加速到一定能量以进行电子剥离,可消除分子离子干扰。本发明用低能散的RFQ加速结构作为14C测量加速器质谱(AMS)系统中的离子加速装置,通过交替改变馈入RFQ加速器的射频功率实现14C、12C、13C三种离子的交替加速。不需要传统AMS中的钢筒、绝缘气体、交替注入系统等,整体结构简化。

Patent Agency Ranking