-
-
公开(公告)号:CN1267582C
公开(公告)日:2006-08-02
申请号:CN200410009379.9
申请日:2004-07-28
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种氢氧化钾溶液腐蚀(100)硅上 晶向凸角的补偿方法,属于微电子机械系统(MEMS)加工工艺技术领域。该方法提供一掩膜补偿图形,该图形由三个正方形组成,与需补偿凸角相对的掩膜图形直角相应,掩膜图形直角的两个边分别延伸,形成正方形(1)的边长a,正方形(1)和掩膜图形直角之间的夹角为另一个正方形(2)的内角,正方形(2)的边长为正方形(1)的边长的1/2,正方形(1)和掩膜图形直角之间的另一夹角为正方形(3)的内角,正方形(3)的边长也为正方形(1)的边长的1/2。由于掩膜补偿图形简单,没有斜线,且图形尺寸计算简便准确,可降低光刻版的制作难度,得到非常完整的凸角。
-
-
公开(公告)号:CN1598060A
公开(公告)日:2005-03-23
申请号:CN200410009379.9
申请日:2004-07-28
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明提供了一种氢氧化钾溶液腐蚀(100)硅上 晶向凸角的补偿方法,属于微电子机械系统(MEMS)加工工艺技术领域。该方法提供一掩膜补偿图形,该图形由三个正方形组成,与需补偿凸角相对的掩膜图形直角相应,掩膜图形直角的两个边分别延伸,形成正方形(1)的边长a,正方形(1)和掩膜图形直角之间的夹角为另一个正方形(2)的内角,正方形(2)的边长为正方形(1)的边长的1/2,正方形(1)和掩膜图形直角之间的另一夹角为正方形(3)的内角,正方形(3)的边长也为正方形(1)的边长的1/2。由于掩膜补偿图形简单,没有斜线,且图形尺寸计算简便准确,可降低光刻版的制作难度,得到非常完整的凸角。
-
-
-
-