公开(公告)号：CN101813693A

公开(公告)日：2010-08-25

申请号：CN201010170691.1

申请日：2010-05-06

Applicant: 北京大学

Inventor： 黄建永 ,  潘晓畅 ,  秦雷 ,  朱涛 ,  熊春阳 ,  方竞

IPC: G01N33/48 ,  G01N21/84 ,  G06T7/40

Abstract: 本发明涉及一种细胞原位主动变形测量方法，其测量步骤包括：(1)分别在细胞-基底荧光参考图像和相应的变形图像上划分方形采样网格；(2)确定参考子区和搜索区域的尺寸；(3)建立四个全局求和表；(4)以递推方式计算以采样点为中心的图像参考子区与相应搜索区域之间的互相关系数；(5)利用步骤(4)的结果并通过查求和表的方式快速计算零均值归一化相关系数矩阵，并根据此矩阵的峰值位置确定采样点的整像素位移大小；(6)利用梯度法进行亚像素插值运算；(7)递推计算所有采样点处的位移，得到整张变形图像精确位移场。本发明具有测量精确高效、高时间-空间分辨率的效果。本发明可以应用于高时空分辨率的细胞原位主动变形测量中。