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公开(公告)号：CN102621477A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210072638.7
申请日：2012-03-19
Applicant: 北京大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种基于归一化延迟概率分布的小延迟缺陷测试方法，该方法包含三个部分：N-detect ATPG生成，归一化延迟概率计算和测试向量选取以及Top-off ATPG生成。本发明利用常规自动测试向量生成(ATPG)工具的N-detect测试向量源，考虑了工艺波动和工艺匹配等问题，选取归一化概率值最大的测试向量组成新的测试向量集，用来检测小延迟缺陷，提高由工艺波动和工艺匹配等引起的小延迟缺陷测试的有效性。相比于现有技术，本发明不仅可降低测试向量规模，而且可提高小延迟缺陷测试的有效性。
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