体硅MEMS器件集成化方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1431699A

    公开(公告)日:2003-07-23

    申请号:CN03104783.1

    申请日:2003-02-28

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种体硅MEMS器件集成化方法。本方法包含集成电路加工(可在任何集成电路生产线上完成)、MEMS器件结构加工和集成化三部分。将复杂的集成化工艺技术分解为三个独立的工艺部分部分,集成电路加工(可在任何集成电路生产线上完成)、MEMS器件结构加工和集成化。具有工艺简单、成品率高、适用于多种MEMS器件的加工、同时具有芯片级封装的功能,解决了目前MEMS技术发展中芯片级封装和集成化两大难题,而且还充分利用了加工技术的社会资源。由于这项技术能够满足多种器件加工的需求,因此也可以说是一种MEMS标准工艺。利用这种简单实用的标准工艺来实现各种功能的MEMS器件,给MEMS技术的发展带来革命性的变化和发展。可广泛应用与MEMS技术领域。

    变形镜及其制备方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1690765A

    公开(公告)日:2005-11-02

    申请号:CN200410009049.X

    申请日:2004-04-27

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明提供了一种变形镜及其制备方法,属于变形镜加工制备领域。该变形镜包括镜面单元和控制电极,镜面单元为一硅片,通过刻蚀硅片,镜面单元包括:一薄膜镜面和一带有若干个凸台的背腔,控制电极固定在衬底上,通过阳极键合将镜面单元与衬底固定连接,镜面单元的凸台与控制电极相对应,两者之间留有间隙。与表面工艺制作的变形镜相比,本发明增大了镜面的有效变形范围,大大提高了变形镜的应用领域,且利用刻蚀体硅方法制得薄膜来充当镜面,可以减小由于应力造成的镜面卷曲。

    体硅MEMS器件集成化方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1209808C

    公开(公告)日:2005-07-06

    申请号:CN03104783.1

    申请日:2003-02-28

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种体硅MEMS器件集成化方法。本方法包含集成电路加工(可在任何集成电路生产线上完成)、MEMS器件结构加工和集成化三部分。将复杂的集成化工艺技术分解为三个独立的工艺部分部分,集成电路加工(可在任何集成电路生产线上完成)、MEMS器件结构加工和集成化。具有工艺简单、成品率高、适用于多种MEMS器件的加工、同时具有芯片级封装的功能,解决了目前MEMS技术发展中芯片级封装和集成化两大难题,而且还充分利用了加工技术的社会资源。由于这项技术能够满足多种器件加工的需求,因此也可以说是一种MEMS标准工艺。利用这种简单实用的标准工艺来实现各种功能的MEMS器件,给MEMS技术的发展带来革命性的变化和发展。可广泛应用与MEMS技术领域。

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