基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统

    公开(公告)号:CN113297430A

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN202110588731.2

    申请日:2021-05-28

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统。该方法包括:从每个数据包中提取全键及其大小,并将其哈希映射到sketch中每个数组的一个存储桶中;使用全键更新每个映射到的存储桶,并基于随机方差最小化技术确定全键的估计大小;基于数据平面中的sketch构建一个包含所有全键及其估计大小的查询表;在查询部分键时,在控制平面中聚合每个部分键对应的全键集合,得到部分键的估计大小。本发明在任意部分键测量任务上实现了很高的准确度,可以在较小的内存空间实现高速的运行,同时所测的部分键数量对系统性能无明显影响;通过增加硬件并行性和消除循环依赖,本发明得以在软件平台和硬件平台都能够实现且性能优异。

    基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统

    公开(公告)号:CN113297430B

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202110588731.2

    申请日:2021-05-28

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于Sketch的高性能任意部分键测量方法和系统。该方法包括:从每个数据包中提取全键及其大小,并将其哈希映射到sketch中每个数组的一个存储桶中;使用全键更新每个映射到的存储桶,并基于随机方差最小化技术确定全键的估计大小;基于数据平面中的sketch构建一个包含所有全键及其估计大小的查询表;在查询部分键时,在控制平面中聚合每个部分键对应的全键集合,得到部分键的估计大小。本发明在任意部分键测量任务上实现了很高的准确度,可以在较小的内存空间实现高速的运行,同时所测的部分键数量对系统性能无明显影响;通过增加硬件并行性和消除循环依赖,本发明得以在软件平台和硬件平台都能够实现且性能优异。

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