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公开(公告)号：CN118017984A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410194169.9
申请日：2024-02-21
Applicant: 北京大学
Abstract: 本发明公开一种适用于SAR ADC电容失配校正的复用型比较器，属于集成电路技术领域。该复用型比较器的输入端与SAR ADC电容阵列相连，复用型比较器的输出端和亚稳态检测电路输入端相连，所述复用型比较器包括前级放大器、可再生锁存比较器和四个开关S1、S2、S3、S4，分别实现粗比较器和细比较器的复用。与传统的利用亚稳态检测进行电容失配校正的方案相比，本发明复用型比较器不仅可以降低高位量化的功耗，也可以有效节省比较器占用的芯片面积。
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