公开(公告)号：CN116309529A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310381756.4

申请日：2023-04-11

Applicant: 北京合众伟奇科技股份有限公司

Inventor： 井友鼎 ,  滕铁军 ,  王红运 ,  申圳 ,  霍振鹏 ,  黄晓娜 ,  郝增财 ,  秦伟

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/08 ,  G06F17/11 ,  G06N3/0464

Abstract: 本发明公开了一种基于图像识别技术的计量箱缺陷研判方法，包括以下步骤：A：获取计量箱缺陷图片数据集；B：根据设定的分辨率阈值范围，对计量箱缺陷图片数据集中的图像进行数据清洗；C：将数据清洗后的计量箱缺陷图片数据集中的图像划分为训练集、验证集和测试集；D：利用训练集中的图像，对卷积神经网络进行训练，确定最佳过滤器的取值，得到训练后的卷积神经网络；E：获取待进行计量箱缺陷研判的计量箱图像，然后将数据清洗后的计量箱图像，利用训练后的卷积神经网络进行识别，最终得到存在缺陷的计量箱图像及对应的缺陷种类。本发明能够快速准确的进行计量箱缺陷研判，检测出存在缺陷的计量箱图片及对应的缺陷种类。