测量非晶丝的环向磁滞回线的方法

    公开(公告)号:CN111505548B

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202010227821.4

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种测量非晶丝的环向磁滞回线的方法,包括:设置步骤:将待测的具有预定长度的非晶丝设置于四臂电桥中的一臂;信号施加步骤:经采样电阻对四臂电桥的输入端施加交流电压信号;采集步骤:采集四臂电桥的输出端的输出电压信号以及采样电阻两端的电压信号;以及处理步骤:对所采集的四臂电桥的输出电压信号和采样电阻两端的电压信号进行处理,以获得非晶丝的环向磁滞回线。

    非晶磁芯的热处理方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111500838B

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202010227810.6

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种非晶磁芯的热处理方法,包括:设置步骤:将待处理的非晶磁芯置于磁屏蔽环境内;加热步骤:以预定的加热时间对所述非晶磁芯施加直流电流,并且利用所述直流电流产生的热量加热所述非晶磁芯;以及循环步骤:循环执行多次所述加热步骤,以消除所述非晶磁芯内部的应力,其中,在每次所述加热步骤中,以预定的切换周期切换所施加的所述直流电流的电流方向。

    非晶磁芯的热处理方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111500838A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN202010227810.6

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种非晶磁芯的热处理方法,包括:设置步骤:将待处理的非晶磁芯置于磁屏蔽环境内;加热步骤:以预定的加热时间对所述非晶磁芯施加直流电流,并且利用所述直流电流产生的热量加热所述非晶磁芯;以及循环步骤:循环执行多次所述加热步骤,以消除所述非晶磁芯内部的应力,其中,在每次所述加热步骤中,以预定的切换周期切换所施加的所述直流电流的电流方向。

    测量磁通门传感器中的探头噪声的方法

    公开(公告)号:CN111505556B

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN202010228244.0

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种测量磁通门传感器中的探头噪声的方法,包括:开环灵敏度获取步骤:利用激励源单独对探头进行激励,测量所述探头的开环输出,以获得探头的开环灵敏度;噪声谱测量步骤:将探头置于磁屏蔽环境内,并测量探头的输出信号的噪声谱;开环噪声获取步骤:在噪声谱中去除由探头以外的部分引入的外部噪声,从而获得探头的开环噪声;以及闭环噪声获取步骤:基于预定的磁通门传感器的灵敏度、探头的开环灵敏度以及探头的开环噪声,获得探头在磁通门传感器中引入的噪声,作为探头的闭环噪声。

    测量磁通门传感器中的探头噪声的方法

    公开(公告)号:CN111505556A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN202010228244.0

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种测量磁通门传感器中的探头噪声的方法,包括:开环灵敏度获取步骤:利用激励源单独对探头进行激励,测量所述探头的开环输出,以获得探头的开环灵敏度;噪声谱测量步骤:将探头置于磁屏蔽环境内,并测量探头的输出信号的噪声谱;开环噪声获取步骤:在噪声谱中去除由探头以外的部分引入的外部噪声,从而获得探头的开环噪声;以及闭环噪声获取步骤:基于预定的磁通门传感器的灵敏度、探头的开环灵敏度以及探头的开环噪声,获得探头在磁通门传感器中引入的噪声,作为探头的闭环噪声。

    测量非晶丝的环向磁滞回线的方法

    公开(公告)号:CN111505548A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN202010227821.4

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明提供了一种测量非晶丝的环向磁滞回线的方法,包括:设置步骤:将待测的具有预定长度的非晶丝设置于四臂电桥中的一臂;信号施加步骤:经采样电阻对四臂电桥的输入端施加交流电压信号;采集步骤:采集四臂电桥的输出端的输出电压信号以及采样电阻两端的电压信号;以及处理步骤:对所采集的四臂电桥的输出电压信号和采样电阻两端的电压信号进行处理,以获得非晶丝的环向磁滞回线。

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