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公开(公告)号：CN208953162U
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201821823590.8
申请日：2018-11-07
Applicant: 北京冶核技术发展有限责任公司
IPC: G01K15/00
Abstract: 一种压力下PT100温度传感器可靠性验证试验仓，包括由箱体和盖板组成的密闭的常压舱，在该常压舱内设有高压舱和标准PT100温度传感器，在该高压舱内设有压力传感器、液位传感器、湿度传感器和被测试PT100温度传感器，在该高压舱上设有加压口；在该常压舱和高压舱内设有液体的热传导介质；在该盖板上设有热传导介质注入口，在该常压舱和高压舱的底部分别设有热传导介质排放口。本实用新型的优点是：简单易用，并且能很好的模拟不同湿度及压力对PT100温度传感器的影响，从而对PT100温度传感器的性能验证，保障了核电厂安全壳密封试验等相关工作的顺利完成，降低了因压力可能造成PT100温度传感器性能下降的潜在风险。
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