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公开(公告)号：CN118275353A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410423101.3
申请日：2024-04-09
Applicant: 北京信息科技大学
Abstract: 本发明公开了一种中波红外超表面偏振调控性能测试装置及方法。中波红外超表面偏振调控性能测试装置包括：光源，用于出射中波红外光线；第一偏转调制单元，用于接收中波红外光线，并调制为线偏振光，出射至待测超表面样品或反射单元上，待测超表面样品的超表面和反射单元均能对线偏振光反射后出射形成反射线偏振光；第二偏振调制单元，用于接收经待测超表面样品反射的反射线偏振光，并调制为预设反射偏振光后出射；光强测量单元，用于接收反射线偏振光和预设反射偏振光，并获得待测超表面样品和反射单元的光强参数；控制处理单元，用于根据光强参数并获取待测超表面样品的偏振调控参数。有效降低测试成本和测试周期，保证测试效率和测试精度。
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