公开(公告)号：CN114355630A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202011090191.7

申请日：2020-10-13

Applicant: 北京交通大学

Inventor： 宁提纲 ,  渠琪 ,  李晶 ,  裴丽 ,  郑晶晶 ,  王建帅 ,  武蓓蕾

IPC: G02F1/01 ,  G02B6/02

Abstract: 本发明公开了一种基于切趾相移长周期光纤光栅的全光调制器，适用于光纤通信和光信号处理等领域。本发明公开的调制器由切趾相移长周期光纤光栅和光路传输线两部分组成；具体构成为：信号源的(1)的输出端通过光纤(2)接偏振控制器(3)的输入端，偏振控制器(3)的输出端接切趾相移光纤光栅(4)的输入端，电极(6)置于光栅上方，光栅尾端通过一段单模光纤接入偏振控制器(5)的输入端相连。当对电极施加电压后，光栅中的模场分布发生改变，某波段的信号光从纤芯模耦合到包层模中，该波段的信号光幅值减小，从而实现光信号调制。该装置能在多场景对光信号进行调制，具有消光比高、插入损耗小等优点。

公开(公告)号：CN118376629A

公开(公告)日：2024-07-23

申请号：CN202410286837.0

申请日：2024-03-13

Applicant: 北京交通大学

Inventor： 宁提纲 ,  渠琪 ,  裴丽 ,  白冰 ,  李晶 ,  郑晶晶 ,  王建帅

IPC: G01N21/95 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种非侵入式光照射的光芯片测试方法，属于集成光学、光纤通信、信号处理领域。向一个刻蚀了光波导(1‑2)和集成了各种光电器件(1‑2)的光芯片(1)的输入端口注入掺有波长范围处于300nm到1650nm之间的探测光(2)信号。通过向光芯片输入端口注入可见光信号，直接观察光在芯片内的传播和漏光情况。当芯片内部存在异常损耗或缺陷时，探测光会在特定区域暴露出可观测到的亮斑，可以通过肉眼或CCD相机进行检测，因而实现对光芯片光路的测试。

公开(公告)号：CN114355631A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202011091072.3

申请日：2020-10-13

Applicant: 北京交通大学

Inventor： 渠琪 ,  宁提纲 ,  裴丽 ,  李晶 ,  王建帅 ,  任国斌

IPC: G02F1/01 ,  G02B6/02

Abstract: 本发明公开了一种基于石墨烯集成长周期光纤光栅的电光调制器，适用于光纤通信和光信号处理等领域。本发明公开的电光调制器结构包括：在光纤(2)的纤芯内部写入长周期光纤光栅(3)，在光纤表面涂覆一定厚度的石墨烯(4)，在石墨烯外层接入电极(6)，被调制器的信号经过输入光纤(1)进入调制器被调制，被调制后的信号经过输出光纤(5)输出。该装置利用电极施加驱动电压来改变石墨烯的折射率，从而影响光栅包层模的折射率，实现了对谐振波长的电调谐。该装置能够在满足低插入损耗和高消光比的条件下对信号进行精准调制，该调制器采用全光纤结构，有效降低了耦合损耗，调制器具备重量轻、体积小、抗腐蚀等优点。