纳秒量级荧光寿命测量用高频调制光源

    公开(公告)号:CN101207957A

    公开(公告)日:2008-06-25

    申请号:CN200710179872.9

    申请日:2007-12-19

    Abstract: 一种能应用于纳秒量级荧光寿命测量的纳秒量级荧光寿命测量用高频调制光源,光源波长可以从940nm改变到380nm,可以被10MHz到50MHz的高频周期信号调制,并且能监测光源的驱动信号。本发明结构简单,易于制作,体积小,可以把光源放入荧光光谱仪的样品室工作。采用通用简式晶体振荡器提供温度稳定度量级为±10ppm/0~±50℃的高频方波电压作高频调制信号,加至三极管基极控制其集电极电流,驱动发光二极管发光。输出光强起伏对比度优于0.5,并有缓冲放大器监测发光二极管的驱动电压,从而为改进的相调制法荧光寿命的测量提供一个稳定的参考信号。

    纳秒量级荧光寿命测量用高频调制光源

    公开(公告)号:CN101207957B

    公开(公告)日:2011-01-19

    申请号:CN200710179872.9

    申请日:2007-12-19

    Abstract: 一种能应用于纳秒量级荧光寿命测量的纳秒量级荧光寿命测量用高频调制光源,光源波长可以从940nm改变到380nm,可以被10MHz到50MHz的高频周期信号调制,并且能监测光源的驱动信号。本发明结构简单,易于制作,体积小,可以把光源放入荧光光谱仪的样品室工作。采用通用简式晶体振荡器提供温度稳定度量级为±10ppm/0~±50℃的高频方波电压作高频调制信号,加至三极管基极控制其集电极电流,驱动发光二极管发光。输出光强起伏对比度优于0.5,并有缓冲放大器监测发光二极管的驱动电压,从而为改进的相调制法荧光寿命的测量提供一个稳定的参考信号。

    光纤中双折射分布的三点测量法

    公开(公告)号:CN102252831A

    公开(公告)日:2011-11-23

    申请号:CN201110169836.0

    申请日:2011-06-22

    Abstract: 本发明公开了一种光纤中双折射分布的三点测量法,由光源产生一个短脉冲光信号,并注入到被测光纤产生背向散射光,返回来的背向散射光利用高速偏振态检测装置将光信号转化为电信号,并将数据采集到计算机中;再使用本发明所提出的三点测量法公式进行计算,实现光纤参数分布的高速实时测量。本发明具有不依赖输入偏振态、测量准确、重复性好、速度快以及操作方便等优点,可广泛用于光纤参数的分布式测量,以及分布式光纤传感器等领域。

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