一种光纤双环可擦除光信息存储装置及存储方法

    公开(公告)号:CN102411985B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN201110269887.0

    申请日:2011-09-13

    Abstract: 本发明公开一种光纤双环可擦除光信息存储装置及存储方法,特征是在双环耦合全光缓存器的光纤环中加入偏振控制器件和光增益器件,偏振控制器件使环内相向传播的两信号光的偏振方向在传播到耦合器处产生0或π/2的夹角,相位差控制器件使这两信号光产生0或者π的相位差,光增益器件对通过耦合器重新进入双环的信号光进行功率补偿。本发明可以实现缓存器一次写入,多次读取及擦除的功能,结构简单,制造容易,是缓存器向存储器改进的新思路。

    半导体光放大器级联偏振主态高可靠性对准方法及系统

    公开(公告)号:CN103715598A

    公开(公告)日:2014-04-09

    申请号:CN201410007199.0

    申请日:2014-01-07

    Abstract: 本发明公开了一种半导体光放大器级联偏振主态高可靠性对准方法及系统,其中,该方法包括:将前后相邻的两个半导体光放大器作为一组,并调节前端半导体光放大器的前置偏振控制器,使前端半导体光放大器的输出光偏振态在邦加球上画出圆弧的半径变小,直至圆弧缩小为邦加球上的一个点;调节后端半导体光放大器的前置偏振控制器,使后端半导体光放大器的输出光偏振态在邦加球上画出圆弧的半径变小,直至圆弧缩小为邦加球上的一个点;实现半导体光放大器偏振主态的对准。本发明提供的对准方法简化了解复用系统的操作,降低了成本,并对全光网及其偏振复用技术的发展具有很好的推动作用。

    检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法

    公开(公告)号:CN101852712B

    公开(公告)日:2012-11-14

    申请号:CN201010174051.8

    申请日:2010-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法。该装置包括:依据预定位置依次布置的激光器、外调制装置、柱透镜组、样品池、聚焦透镜和光探测器;其中,所述外调制装置用于产生检测信号,并将所述检测信号加载到激光器发出的激光束上;所述装置还包括示波器和处理电路,所述光探测器通过信号线分别与所述示波器、所述处理电路相连接,用于将来自于所述外调制装置的所述检测信号显示到所述示波器上并在所述处理电路上进行处理。基于本发明,可以使光探测器工作在线性工作区,进而能更加精确地进行颗粒检测。

    一种光纤双环可擦除光信息存储装置及存储方法

    公开(公告)号:CN102411985A

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN201110269887.0

    申请日:2011-09-13

    Abstract: 本发明公开一种光纤双环可擦除光信息存储装置及存储方法,特征是在双环耦合全光缓存器的光纤环中加入偏振控制器件和光增益器件,偏振控制器件使环内相向传播的两信号光的偏振方向在传播到耦合器处产生0或π/2的夹角,相位差控制器件使这两信号光产生0或者π的相位差,光增益器件对通过耦合器重新进入双环的信号光进行功率补偿。本发明可以实现缓存器一次写入,多次读取及擦除的功能,结构简单,制造容易,是缓存器向存储器改进的新思路。

    检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法

    公开(公告)号:CN101852712A

    公开(公告)日:2010-10-06

    申请号:CN201010174051.8

    申请日:2010-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种检测颗粒检测仪光探测器工作点的装置及方法。该装置包括:依据预定位置依次布置的激光器、外调制装置、柱透镜组、样品池、聚焦透镜和光探测器;其中,所述外调制装置用于产生检测信号,并将所述检测信号加载到激光器发出的激光束上;所述装置还包括示波器和处理电路,所述光探测器通过信号线分别与所述示波器、所述处理电路相连接,用于将来自于所述外调制装置的所述检测信号显示到所述示波器上并在所述处理电路上进行处理。基于本发明,可以使光探测器工作在线性工作区,进而能更加精确地进行颗粒检测。

    半导体光放大器级联偏振主态高可靠性对准方法及系统

    公开(公告)号:CN103715598B

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201410007199.0

    申请日:2014-01-07

    Abstract: 本发明公开了一种半导体光放大器级联偏振主态高可靠性对准方法及系统,其中,该方法包括:将前后相邻的两个半导体光放大器作为一组,并调节前端半导体光放大器的前置偏振控制器,使前端半导体光放大器的输出光偏振态在邦加球上画出圆弧的半径变小,直至圆弧缩小为邦加球上的一个点;调节后端半导体光放大器的前置偏振控制器,使后端半导体光放大器的输出光偏振态在邦加球上画出圆弧的半径变小,直至圆弧缩小为邦加球上的一个点;实现半导体光放大器偏振主态的对准。本发明提供的对准方法简化了解复用系统的操作,降低了成本,并对全光网及其偏振复用技术的发展具有很好的推动作用。

    一种基于三角信号迅速判定光纤干涉仪工作点的方法

    公开(公告)号:CN101865702B

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201010191615.9

    申请日:2010-05-26

    Abstract: 本发明是一种迅速判定光纤干涉仪工作点的方法。光纤干涉仪在测量中,常因受到干扰信号的影响,使工作点偏离灵敏度最佳位置,导致干涉仪的灵敏度下降,严重时甚至会进入非线性区域,导致干涉仪输出信号畸变,不能线性地反映外界的影响。为迅速正确地判定干涉仪的工作点位置,本发明方法采用在光线干涉仪的一个光纤干涉臂上,安装附加调制装置,使用三角信号作为调制信号,驱动附加调制装置,通过观察输出三角波形发生形变的位置和时间判断对应光纤干涉仪工作点的位置,即相对于线性区中心的偏离方向及距离。本发明可以广泛应用到Michelson干涉仪或Fizeau干涉仪等多种光纤干涉仪。

    一种基于三角信号迅速判定光纤干涉仪工作点的方法

    公开(公告)号:CN101865702A

    公开(公告)日:2010-10-20

    申请号:CN201010191615.9

    申请日:2010-05-26

    Abstract: 本发明是一种迅速判定光纤干涉仪工作点的方法。光纤干涉仪在测量中,常因受到干扰信号的影响,使工作点偏离灵敏度最佳位置,导致干涉仪的灵敏度下降,严重时甚至会进入非线性区域,导致干涉仪输出信号畸变,不能线性地反映外界的影响。为迅速正确地判定干涉仪的工作点位置,本发明方法采用在光线干涉仪的一个光纤干涉臂上,安装附加调制装置,使用三角信号作为调制信号,驱动附加调制装置,通过观察输出三角波形发生形变的位置和时间判断对应光纤干涉仪工作点的位置,即相对于线性区中心的偏离方向及距离。本发明可以广泛应用到Michelson干涉仪或Fizeau干涉仪等多种光纤干涉仪。

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